SN74AS280D是一款由德州仪器(Texas Instruments)制造的9位奇偶校验发生器/校验器集成电路,属于先进的Schottky TTL(AS-TTL)系列。该芯片可用于生成或校验8位数据的奇偶校验位,适用于数据通信、存储系统以及需要数据完整性验证的场合。该芯片采用16引脚SOIC或PDIP封装,具有高速运行能力和低功耗特性。
类型:奇偶校验发生器/校验器
位数:9位
输入电压范围:4.75V至5.25V
工作温度范围:工业级(-40°C至+85°C)
封装类型:16引脚SOIC / PDIP
逻辑电平:TTL兼容
传播延迟(典型值):约10ns
电源电流(最大值):约80mA
SN74AS280D的主要特性包括高速处理能力和低功耗设计,适用于多种数据完整性应用。该芯片支持8位数据输入和1位奇偶校验输出,能够同时生成或校验偶校验和奇校验。其AS-TTL技术确保了高速操作和良好的抗干扰能力,适合在工业环境和通信系统中使用。此外,该芯片的输入端支持TTL逻辑电平,便于与其他TTL或CMOS器件接口。其设计还支持扇入和扇出能力,适用于复杂的数字系统集成。
该器件在数据通信中常用于校验传输过程中的错误,确保数据的准确性和完整性。例如,在串行通信、内存系统、RAID控制器和数据总线系统中,SN74AS280D能够有效检测单比特错误。由于其高速特性,它适用于需要快速响应的应用,如高性能计算设备和网络硬件。
SN74AS280D还具备良好的热稳定性和电气稳定性,能够在各种工作条件下保持可靠性能。其封装设计便于PCB布局,并支持表面贴装和通孔安装两种方式。
SN74AS280D广泛应用于需要数据完整性校验的系统中,如计算机内存控制器、RAID系统、通信设备、工业自动化系统、数据采集模块等。在多路数据传输系统中,它可以用于校验数据是否在传输过程中发生错误。此外,该芯片也常用于嵌入式系统、测试设备和数字接口模块中,以确保数据的准确性和系统稳定性。在高速总线系统中,SN74AS280D可用于奇偶校验以增强系统的容错能力。
74F280, 74ACT280, 74ABT280