时间:2025/12/26 8:50:28
阅读:11
PI3HDX412BDZBE 是由 Diodes Incorporated 生产的一款高性能、低功耗的 4 通道、2:1 多路复用器/解复用器,专为高速信号切换应用设计。该器件基于先进的 CMOS 工艺制造,支持高达 10 Gbps 的数据传输速率,适用于多种高速串行接口场景。PI3HDX412BDZBE 提供了两个独立的选择输入(S0 和 S1),用于控制每对差分通道的路径选择,从而实现灵活的信号路由功能。该芯片采用紧凑型 12 引脚 WDFN 封装,具有优良的电气性能和热稳定性,适合在空间受限且对信号完整性要求较高的系统中使用。其主要目标市场包括便携式设备、通信基础设施、数据中心互连以及测试与测量设备等。PI3HDX412BDZBE 支持热插拔操作,并具备过压保护和高抗噪能力,能够在复杂电磁环境中稳定工作。此外,该器件符合 RoHS 环保标准,无铅且绿色环保,适用于现代电子产品的可持续发展需求。
器件型号:PI3HDX412BDZBE
制造商:Diodes Incorporated
通道数量:4
配置类型:2:1 多路复用器/解复用器
数据速率:最高支持 10 Gbps
供电电压:2.375V 至 3.465V
工作温度范围:-40°C 至 +85°C
封装类型:12-WDFN (2x2.1)
引脚数:12
传播延迟:典型值 150ps
插入损耗:@5GHz ≤ -3.5dB
回波损耗:@5GHz ≥ -12dB
关断状态隔离度:@5GHz ≥ -25dB
串扰抑制:@5GHz ≥ -30dB
I/O 接口类型:差分信号支持
控制逻辑电平:兼容 1.8V CMOS
是否支持热插拔:是
是否符合 RoHS:是
PI3HDX412BDZBE 具备卓越的高频信号完整性表现,能够在高达 10 Gbps 的数据速率下维持稳定的传输性能,这得益于其优化的内部布线结构和低寄生参数设计。该器件在宽频范围内展现出极低的插入损耗和优异的回波损耗特性,确保高速差分信号在切换过程中不会因阻抗失配而产生显著反射或衰减,从而保障系统的误码率处于可接受范围之内。其出色的关断状态隔离度有效防止了非选通通道对当前通路的干扰,在多路并行工作的环境中提升了整体信号纯净度。同时,器件具备良好的通道间串扰抑制能力,即便在密集布线的应用场景中也能保持各通道之间的独立性。
该芯片采用低功耗 CMOS 技术,在正常运行时消耗的静态电流极小,有助于延长电池供电设备的工作时间。其控制输入端兼容 1.8V 逻辑电平,可直接与主流 FPGA、ASIC 或微控制器连接,无需额外的电平转换电路,简化了系统设计复杂度。内置的上电复位功能确保器件在电源建立完成后自动进入已知的安全状态,避免启动过程中的不确定行为导致信号误传。此外,PI3HDX412BDZBE 支持热插拔操作,允许在系统运行期间安全地更换模块或调整配置,特别适用于需要高可用性的通信和服务器平台。
WDFN 封装不仅体积小巧,还提供了良好的散热性能和机械稳定性,使其能够适应严苛的工业环境。整个封装材料均符合无铅焊接工艺要求,支持回流焊和波峰焊等多种装配方式。该器件经过严格的可靠性测试,包括高温高湿存储、温度循环及静电放电(ESD)防护测试,保证长期运行的稳定性与耐用性。
PI3HDX412BDZBE 广泛应用于需要高速信号切换的各种电子系统中。典型应用场景包括高速串行接口的路径选择,如 USB 3.0、PCIe Gen2/Gen3、SATA III 和 DisplayPort 等,可用于主板上的外设切换、扩展坞或多显示器配置中实现灵活的信号路由。在数据中心和企业级服务器中,该器件可用于构建可重构的互连架构,支持动态带宽分配和冗余链路切换,提升系统的灵活性与容错能力。测试与测量设备也常利用 PI3HDX412BDZBE 实现多通道信号源或被测设备的自动切换,提高自动化测试效率。此外,它还可用于便携式医疗设备、高端音视频设备以及工业相机中的高速数据采集系统,满足对实时性和带宽的严苛要求。由于其支持热插拔和低功耗特性,也非常适合用于嵌入式系统和移动计算平台中,作为信号开关的核心组件。
PI3HDX412BER