辐照度光谱仪采用TE致冷的光谱仪和光纤耦合的透射式余弦校正部件，并经NIST可溯源的标准灯进行照度校正。是LED及光源表征测试，各种不同类型辐照光源（如太阳能模拟器）检测的理想选择。特定的光纤耦合余弦校正器非常适合于手持式现场检测，系统采用USB数据传输，更适合于快速检测的需求。
1、系统软件直接提供CIE标准的光学检测指标
2、透射式余弦校正器，适合不同类型光源检测表征
3、TE致冷CCD光谱仪，优异的稳定性表现
4、经NIST溯源的标准灯校正，检测结果权威可靠
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光学参数 | |
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光谱范围 |
380-750nm |
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光谱分辨率（FWHM） |
<1.5nm |
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照度范围 |
25 nW/cm2/nm – 4mW/cm2/nm |
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Electrical | |
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检测器类型 |
响应增强的2048像元硅基CCD阵列 |
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外触发 |
包含触发端口 |
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计算机接口 |
USB2.0/1.1 |
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数据传输速度 |
180谱/秒,USB 2.0 |
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电源输入 |
5V DC, <1.5A |
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软件 | |
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积分时间 |
5ms-65535ms，乘法器 |
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操作系统 |
Windows XP，Windows Vista，Windows 7 |
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环境 | |
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操作温度 |
15-35℃ |
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相对湿度 |
85%，无冷凝 |
* 波长测量
* LED及光源测试表征
* 辐照度和颜色表征
* 可见光谱/辐照度检测
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