1、可量测波长λ=200~1100nm，光强度Iv=0~100000mcd CIE视函数探测器；

　　2、采用独特的白光测量方法和光学器件，更先进的白光分色技术；

　　3、可测试共阴或共阳之任何封装，单脚单晶、双脚双晶、三脚双晶之Wafer、SMD或Lamp封装，可测试红外发射管和接收管；

　　4、量测标准可追溯至CIE127-1997、Instrument Systems、NIST和Keithley；

　　5、可选择积分球、视觉函数光探测器或分光光谱仪等光学量测感应装置；

　　6、实时CIE坐标图及落点显示；

　　7、16位恒流恒压源和数位量测电表之分辨率；

　　8、电性量测电路采用Kelvin法，可避免接触电阻和线阻造成之测量误差；

　　9、完善的报表打印和数据统计系统；

　　10、全系列LED测试系统解决方案，采用PC-based装置，提供快速灵活之自动测试和人机交互接口；

　　11、用户可任意定义之电压电流源值，之测试项目之上限与下限，之任意安排量测值之输出BIN位；

　　12、快捷的分级设定功能。

　　13、可分析蓝光波长与黄色荧光粉合成之白光的坐标位置。

　　1、电流-电压量测：

　　电流源范围：0~200mA

　　电流源精度：±0.1%/16位 ±6uA

　　电压源范围：0~25V

　　电压源精度：±0.05%/16位 ±0.38mV

　　4档可程控量测增益：0.1/0.5/1.0/10.0

　　电压量测范围：0~±100V/0~±20V/0~±10V/0~±1V

　　电压量测精度：±0.1%±2mV

　　2、电压-电流量测：

　　电压源范围：0~50V

　　电流源范围：0~1mA

　　4档可程控量测增益：0.1/0.5/1.0/10.0

　　电压量测范围：0~±100V/0~±20V/0~±10V/0~±1V

　　电流量测精度：±0.1%0.03uA

　　3、光强度量测：

　　范围：0~100000mcd

　　精度：±5%

　　重复性：±0.5%

　　4、颜色量测：

　　光谱仪/探测器类型：

　　Ocean Optics USB2000+ /Sony Silicon CCD,2048Pixels

　　Ocean Optics USB4000 /Toshiba Silicon CCD,3648Pixels

　　Control Development Inc. PDA-512-ISA/USB

　　波长范围：350~1050nm/320~1020nm

　　光谱曝光时间：1ms~65535ms

　　光谱分辨率：1.0nm

　　像素点分辨率：0.3nm

　　色度坐标分辨率：0.003

　　LED分光机主要部件采用进口，运行时速度快、震动小、掉料少、清理方便、故障率低，是各生产厂家的理想选择。适用于各种不同封装尺寸的SMD类型发光二极管材料，如3528，5050单、双、三晶测试和分类。