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智能介质损耗测试仪
阅读:4132时间:2010-11-30 20:44:16

  智能介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,智能介质损耗测试仪用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)测量。

优点

  智能介质损耗测试仪仪器具有操作简单、无需数据换算、中文菜单显示、并自带打印功能、抗干扰能力强、测试速度在国内同类产品中最快的优点。

工作原理

  仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路:

  1、标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并由之算出被测试品电容容值(CX)和其介质损耗(tgδ)。

  2、数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒完全浮空屏蔽,仪器外壳地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、精确、可靠。

技术指标

  1、环境温度:0 ~40℃

  2、相对湿度:30% ~70%

  3、供电电源:电压:220V±10%、频率:50±1Hz

  4、外形尺寸:500mm×300mm×400mm

  5、重量:    约18Kg

  6、输出功率:0.6KVA

  7、显示分辩率:3位、4位(内部全是6位)

  8、测量范围及输出电压选择:

  介质损耗(tgδ):±0.00~±999%

  试品电容容量(Cx)和加载电压:

  2.5KV档:≤300nF(300000pF)            3KV档:≤200nF(200000pF)

  5KV档:≤76nF(76000pF)                   7.5KV档:≤34nF(34000pF)

  10KV档:≤20nF(20000pF)

  9、基本测量误差:

  介质损耗(tgδ):1%±7个字(加载电流20uA~500mA)

  介质损耗(tgδ):2%±9个字(加载电流5uA~20uA)

  电容容量(Cx):1.5%±1.5pF

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