蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验
蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示，PID+SSR控制，白金电阻温度传感器（PT100），解析度0.1℃，。
老化箱整体不锈钢SUS #304 HL制成，操作设定简易 微电脑数位LED控制，具时间规划功能，可设定9,990Mins 多重超温保护/缺水切电热等安全装置。 零件、连接器被动元件，半导体接脚高温高湿氧化试验。 金属接脚沾锡性试验加速老化试验。 采用式PID+SSR温度控制器，同时具有时间计时功能，可设定9990分式无限。
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