类型：SPXO（简单封装晶体振荡器）
　　输出频率：27.12 MHz
　　输出逻辑：CMOS
　　供电电压：3.3V 或 5.0V（具体依版本而定）
　　频率稳定度：±25 ppm（典型值）
　　工作温度范围：-40°C 至 +85°C
　　存储温度范围：-55°C 至 +125°C
　　老化率：±3 ppm/年（最大值）
　　相位噪声：@1kHz offset: -145 dBc/Hz；@10kHz offset: -155 dBc/Hz（典型值）
　　上升/下降时间：<5 ns（典型值）
　　占空比：45% ~ 55%
　　封装形式：SMD 4-Pin（如 7.0x5.0mm 或 5.0x3.2mm）
　　启动时间：<10 ms（典型值）
　　电流消耗：≤15 mA（典型值）

XL2SI-111-27.12M 晶体振荡器具备出色的频率精度与长期稳定性，能够在宽温范围内维持 ±25 ppm 的频率偏差，确保系统在各种环境条件下都能获得可靠的时钟基准。其内部采用高品质石英晶体和优化设计的振荡电路，有效抑制了由于温度变化、电源波动及负载变动引起的频率漂移问题。该器件提供标准 CMOS 输出电平，兼容大多数微控制器、FPGA、ASIC 和通信芯片的时钟输入接口，无需额外电平转换电路即可实现即插即用。此外，其快速启动能力（小于10毫秒）使得系统上电后能迅速进入正常工作状态，特别适用于需要快速响应的应用场景。
　　该振荡器具有较低的相位噪声性能，在 1 kHz 频偏处可达 -145 dBc/Hz，这有助于降低通信系统中的误码率并提升数据传输质量。同时，其输出信号的上升沿和下降沿时间短（<5ns），保证了良好的信号完整性，减少了时钟抖动对高速数字逻辑的影响。器件采用小型表面贴装封装，节省 PCB 空间，便于自动化贴片生产，提升了制造效率。外壳具备良好的屏蔽效果，增强了抗电磁干扰（EMI）能力，使其可在复杂的电磁环境中稳定运行。
　　XL2SI-111-27.12M 还具备优异的老化特性，年老化率不超过 ±3 ppm，这意味着即使长时间连续工作，其频率偏移也非常小，极大延长了系统的校准周期。产品通过严格的可靠性测试，包括高低温循环、湿度试验和振动测试，确保在工业级应用中的耐用性。此外，该器件符合 RoHS 和 REACH 环保规范，支持无铅回流焊工艺，适应现代绿色电子制造的要求。整体设计兼顾高性能、高可靠性和易集成性，是中高端电子设备理想的时间基准解决方案。

XL2SI-111-27.12M 广泛应用于需要精确时钟源的各类电子设备中。在无线通信领域，它常被用作射频模块、蓝牙、Wi-Fi 和 ZigBee 收发器的本地振荡器或主控时钟源，特别是在工作频率接近 ISM 频段（如 27MHz 波段）的应用中表现优异。在工业自动化系统中，该振荡器为 PLC 控制器、传感器网关和远程 I/O 模块提供稳定的系统时钟，保障实时控制任务的准确执行。消费类电子产品如智能电视、机顶盒、家用路由器等也广泛采用此类器件作为主处理器或多媒体编解码芯片的参考时钟。
　　在医疗电子设备中，例如便携式监护仪、超声成像系统和诊断仪器，XL2SI-111-27.12M 提供低抖动、低噪声的时钟信号，有助于提高模拟前端采样精度和数字信号处理的同步性。此外，在测试与测量仪器（如示波器、频谱分析仪）中，该振荡器可作为内部定时基准，提升仪器的时间分辨率和测量重复性。对于需要符合电磁兼容标准的设备，其良好的 EMI 抑制能力和抗干扰设计使其成为首选时钟元件。
　　该器件同样适用于嵌入式系统、FPGA 开发板、网络交换设备和 GPS 接收模块等对时序一致性要求较高的场合。由于其封装小巧且易于布局布线，非常适合高密度 PCB 设计。无论是批量生产的商用产品还是小规模研发项目，XL2SI-111-27.12M 都能提供稳定可靠的时钟支持，显著提升系统整体性能和运行稳定性。

ECS-2712MV-HN-TR
　　NDK NX2712SCC-STD
　　Seiko Epson X1G004631005900
　　Abracon ABM8-27.120MHz-B2
　　Citizen CM300D-27.120MBB