TE6654N 是一款由 Telcom Semiconductor(现为 Diodes 公司旗下品牌)推出的低电压、低功耗、双路比较器集成电路。该芯片采用 8 引脚 DIP 或 SOP 封装,适用于电池供电设备、便携式电子产品以及需要低功耗设计的系统。TE6654N 的每个比较器均可在低至 2.5V 的电源电压下工作,并具有较宽的输入共模范围,支持轨到轨输入。该器件在设计上具备较高的灵活性和稳定性,适用于多种模拟比较应用场景。
类型:双路电压比较器
供电电压范围:2.5V 至 5.5V
输入偏置电流:最大 20nA
输入失调电压:最大 5mV
输出类型:开漏
静态电流:典型值 12μA
响应时间:典型值 2.5μs
工作温度范围:-40°C 至 +85°C
封装形式:8-DIP 或 8-SOP
TE6654N 比较器具有多个关键特性,使其适用于多种低功耗比较应用。
首先,该器件支持宽电压范围供电(2.5V 至 5.5V),使其适用于多种电池供电和低压系统设计。这种宽电压适应能力也增强了其在不同电源环境下的兼容性。
其次,TE6654N 的输入共模范围覆盖整个电源电压范围(轨到轨输入),允许输入信号接近电源正端或地端,从而提高了系统设计的灵活性。
其低静态电流(典型值为 12μA)使其特别适合用于节能和便携式设备,如手持仪表、传感器接口和电池管理系统等。
该器件的输入失调电压较低(最大 5mV),确保了较高的比较精度。同时,输入偏置电流较低(最大 20nA),有助于减少对前端信号源的影响,适用于高阻抗信号源的检测应用。
输出结构采用开漏配置,允许用户根据需要连接外部上拉电阻至不同电压源,从而实现电平转换功能,适用于多种数字接口电路。
此外,TE6654N 提供较短的传播延迟(典型响应时间为 2.5μs),能够满足中速比较应用的需求,例如电压监控、窗口比较器、过压/欠压检测等。
最后,该器件的工作温度范围为 -40°C 至 +85°C,满足工业级温度要求,适用于较为恶劣的工作环境。
TE6654N 主要用于需要低功耗、低电压操作的比较器应用场合。例如,在便携式电子设备中,可用于电池电量检测电路,通过比较电池电压与基准电压,判断是否需要充电或进入低功耗模式。在传感器接口电路中,可作为信号阈值检测器,将模拟传感器输出与设定的阈值进行比较,从而触发相应的控制逻辑。在工业控制系统中,TE6654N 可用于电压监控和报警电路,检测电源电压是否超出设定范围,并触发保护机制。此外,该器件还可用于构建窗口比较器,判断输入信号是否处于预设的上下限之间,常见于温度控制系统、电机控制和安全监测系统。由于其开漏输出结构,TE6654N 也适用于与不同电压域的数字系统进行接口,例如将模拟信号转换为数字信号输入到 MCU 或 FPGA 中。
LM393N-4, LMV393N, MCP6541T-E/SN