类型：CMOS图像传感器
　　像素阵列：6720 (H) × 1840 (V)
　　像素尺寸：5.5 μm × 5.5 μm
　　光谱响应范围：可见光至近红外（约400 nm - 1000 nm）
　　快门类型：全局快门（Global Shutter）
　　帧率：最高可达91 fps（全分辨率下）
　　输出接口：LVDS（Low-Voltage Differential Signaling），多通道可选
　　位深：支持10位、12位输出模式
　　电源电压：核心电压1.8 V，I/O电压3.3 V
　　封装类型：陶瓷PGA封装
　　工作温度范围：-20°C 至 +70°C
　　功耗：典型值约为2.5 W（取决于工作模式）
　　光学格式：约33 mm对角线尺寸
　　动态范围：>70 dB（典型值）
　　信噪比：>60 dB（典型值）

T33-A350X的核心优势之一在于其高分辨率与高速成像能力的结合。该传感器拥有6720×1840的有效像素阵列，总像素数超过1200万，能够提供极其精细的图像细节，适用于高精度检测任务。其5.5微米的像素尺寸在保证灵敏度的同时，优化了填充因子和量子效率，提升了弱光环境下的成像表现。全局快门技术使得每一行像素在同一时刻曝光，彻底消除了卷帘快门带来的运动模糊或倾斜变形问题，这在高速生产线检测中至关重要，例如在印刷电路板（PCB）检测或瓶罐标签检测中，可确保图像不失真。
　　该传感器具备出色的动态范围和低读出噪声性能，使其能够在明暗对比强烈的场景中同时保留亮部和暗部细节。通过片上双增益架构设计，T33-A350X可在高光区切换至低增益模式防止饱和，在暗区则使用高增益模式提升信号强度，从而实现宽动态范围成像。这一特性在玻璃制品检测、金属表面缺陷识别等应用中尤为重要。
　　T33-A350X支持多通道LVDS高速串行输出，允许用户根据系统带宽需求灵活配置数据传输速率和通道数量，最大帧率可达91帧每秒，满足实时在线检测的需求。其时序控制高度可编程，支持外部触发、自由运行等多种操作模式，并可通过SPI接口进行寄存器配置，便于嵌入式系统的集成与调试。
　　此外，该器件符合工业级可靠性标准，陶瓷封装不仅提供了优异的散热性能，还增强了抗振动和耐温变能力。Teledyne e2v为该传感器提供长期供货保障和技术支持，适合需要长期稳定运行的工业设备制造商选用。

T33-A350X广泛应用于对图像质量和系统稳定性要求极高的工业与科学成像领域。在机器视觉系统中，它常用于高分辨率表面缺陷检测，如半导体晶圆检测、FPD（平板显示器）面板检测、太阳能电池板瑕疵分析等，凭借其高像素密度和全局快门特性，能够精准捕捉微米级缺陷。在印刷与包装行业，该传感器被集成于高速印刷质量检测系统中，用于实时监控颜色偏差、套印误差、墨点缺失等问题，确保大批量生产的一致性。
　　在物流与分拣系统中，T33-A350X可用于条码识别、字符OCR（光学字符识别）和物体轮廓提取，其高帧率和低延迟输出确保在快速传送带上也能稳定读取信息。在科学研究方面，该传感器适用于显微成像、天文观测辅助设备以及荧光成像系统，尤其是在需要长时间曝光和低噪声采集的实验环境中表现出色。
　　此外，T33-A350X也适用于医疗影像设备中的数字化X射线探测器（通过搭配闪烁体材料实现间接成像），以及安全监控领域的高端安防相机模块。由于其支持多相机同步功能，还可用于立体视觉或多视角三维重建系统，为智能制造和自动化测量提供可靠的数据源。

EMERALD 12400
　　EV76C560