时间：2025/4/27 16:18:16
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SP3072EEN-L/TR 是一款高性能、低功耗的 ESD（静电放电）保护二极管阵列，专为高速信号线和数据接口提供静电防护设计。该器件具有极低的电容特性，非常适合用于高速数据传输场景，例如 USB 3.0/3.1、HDMI、DisplayPort 等接口。它能够有效防止因静电放电导致的电子设备损坏，同时对信号完整性影响较小。
SP3072EEN-L/TR 采用紧凑型封装设计，便于在空间受限的应用中使用，其高可靠性使其成为消费电子、通信设备及工业控制等领域的理想选择。
工作电压：±28V
响应时间：≤1ps
最大泄漏电流：1μA（@VR=20V）
动态电阻：0.3Ω（典型值）
结电容：0.6pF（典型值，@VR=0V，f=1MHz）
ESD 防护等级：±30kV（空气放电），±30kV（接触放电）
工作温度范围：-55℃ 至 +150℃
封装形式：SOT-23-6
1. 超低结电容设计，确保对高速信号的影响最小化。
2. 极快的响应速度，可有效抑制瞬态电压尖峰。
3. 高 ESD 防护能力，满足 IEC 61000-4-2 国际标准。
4. 小型封装结构，适合空间敏感的设计需求。
5. 在宽温度范围内保持稳定的性能表现。
6. 可兼容多种高速数据接口的保护要求。
SP3072EEN-L/TR 广泛应用于需要高性能静电防护的场景，包括但不限于：
1. 消费类电子产品，如智能手机、平板电脑、笔记本电脑等。
2. 多媒体接口保护，例如 HDMI、USB 3.0/3.1、DisplayPort 和其他高速数据传输接口。
3. 工业自动化设备中的信号线路保护。
4. 通信设备，如路由器、交换机和其他网络设备的数据端口保护。
5. 汽车电子系统中的控制单元和传感器接口保护。
SP3072EETR, SP3072EEQTR, PESD8V0B1Y_L
