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SE5G6102K70 发布时间 时间:2025/11/6 1:46:48 查看 阅读:18

SE5G6102K70是一款高性能、高可靠性的静态随机存取存储器(SRAM)芯片,由Integrated Device Technology (IDT) 公司设计和生产。该器件属于IDT的QPI(Quad-Channel Peripheral Interface)高速SRAM产品线,专为需要低延迟、高带宽数据存储的应用场景而优化。SE5G6102K70采用先进的CMOS工艺制造,具备卓越的电气性能和热稳定性,适用于严苛的工业、军事和航空航天环境。该芯片提供512K × 36位的存储容量,总存储密度为18兆位(18Mb),通过并行接口实现高速数据访问,最大访问时间低至7.0纳秒,支持高达143 MHz的工作频率。其封装形式为高可靠性的Ceramic Column Grid Array (CCGA),具备出色的散热性能和机械强度,能够在-55°C至+125°C的宽温范围内稳定运行,满足MIL-PRF-38535标准的制造要求,适用于高可靠性应用场合。

参数

制造商:Integrated Device Technology (IDT)
  类型:高速异步SRAM
  系列:QPI
  存储容量:512K × 36位(18Mb)
  组织结构:512,000字 × 36位
  访问时间:7.0 ns 最大
  工作频率:最高143 MHz
  供电电压:3.3V ± 10%
  工作温度范围:-55°C 至 +125°C
  存储温度范围:-65°C 至 +150°C
  封装类型:CCGA(Ceramic Column Grid Array)
  引脚数:200-pin
  接口类型:并行异步接口
  数据总线宽度:36位
  控制信号:CE#, OE#, WE#, UB#/LB#
  可靠性标准:符合 MIL-PRF-38535 标准
  辐射耐受性:具备抗辐射设计(抗总剂量辐射能力典型值 > 300 krad(Si))

特性

SE5G6102K70的核心特性之一是其极低的访问延迟,最大仅为7.0纳秒,使其成为高速缓存、实时数据缓冲和飞行控制系统等对响应时间极为敏感的应用的理想选择。
  该芯片采用高性能CMOS技术,在确保高速运行的同时保持较低的功耗水平,特别是在待机模式下具有显著的节能效果,适合在电源受限的嵌入式系统中使用。
  其36位宽的数据总线支持高效的批量数据传输,能够有效减少处理器与存储器之间的通信瓶颈,提升整体系统吞吐量。
  SE5G6102K70集成了上半字节(UB#)和下半字节(LB#)使能控制功能,允许对高16位和低16位数据线进行独立选通,从而实现更灵活的字节级数据操作,增强系统的编程灵活性。
  该器件支持全静态操作,无需刷新周期,简化了系统设计,并提高了数据保持的可靠性。
  CCGA陶瓷封装不仅提供了优异的热传导性能,还增强了在极端温度变化和机械振动环境下的长期可靠性,特别适用于航天器、导弹制导系统和高海拔平台等严酷应用场景。
  此外,SE5G6102K70经过严格的筛选和测试流程,包括温度循环、恒定加速度、机械冲击和寿命测试,确保每颗芯片都符合军用级质量标准。
  它还具备较强的抗电磁干扰(EMI)能力和信号完整性设计,能够在高噪声环境中稳定工作。
  由于其高可靠性和长生命周期支持,该器件常被用于关键任务系统中,如雷达信号处理、卫星通信前端、飞行计算机和核控制系统,这些领域要求元器件在极端条件下仍能持续无故障运行。

应用

SE5G6102K70广泛应用于对数据存取速度、可靠性和环境适应性有极高要求的高端电子系统中。
  在航空航天领域,它常用于星载计算机、飞行控制系统、惯性导航系统和遥测数据缓存模块,凭借其抗辐射特性和宽温工作能力,确保在外层空间或高空飞行器中的长期稳定运行。
  在国防和军事系统中,该芯片被集成于雷达信号处理单元、电子战设备、加密通信终端和战术数据链路中,用于临时存储高速采集的原始信号或中间计算结果。
  在工业自动化领域,适用于高精度运动控制器、实时PLC系统以及需要确定性响应的工业机器人控制核心,保障复杂控制算法的高效执行。
  此外,该器件也用于高端测试与测量仪器,如高速示波器、逻辑分析仪和频谱分析仪,作为采样数据的快速暂存区,以支持实时波形处理和大数据流管理。
  由于其符合军规标准并具备可追溯的生产批次记录,SE5G6102K70也常被用于需要认证和审计的关键基础设施系统,如核电站控制、轨道交通信号系统和海底探测装置。

替代型号

IDT71V6102L15PFGI8

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