PESD5V0L2UMB,315 是一款由NXP Semiconductors(恩智浦半导体)生产的静电放电(ESD)保护二极管阵列,专为高速数据线路和低电压应用提供高效、可靠的保护。该器件采用DFN1006-3封装,适用于USB、HDMI、以太网和其他高速接口的ESD保护。PESD5V0L2UMB,315具有低电容、低钳位电压和快速响应时间等特性,确保在不干扰正常信号传输的前提下,有效吸收静电放电或其他瞬态电压带来的冲击。
工作电压:5.0V
最大反向工作电压(VRWM):5.0V
击穿电压(VBR):最小5.5V(典型6.0V)
钳位电压(VC):小于13V(在IEC 61000-4-2 8kV测试条件下)
漏电流(IR):最大100nA(在25°C下)
电容(C):典型值0.3pF(1MHz测试频率)
响应时间(tRESP):小于1ns
封装:DFN1006-3(尺寸为1.0mm x 0.6mm)
工作温度范围:-55°C至+150°C
PESD5V0L2UMB,315 是一款面向高速数据通信接口的ESD保护器件,具备多项优良特性,确保在复杂电磁环境中提供稳定可靠的保护。
首先,该器件的低电容特性(典型值0.3pF)使其适用于高速数据线路,如USB 3.0、HDMI和以太网接口。低电容可减少对信号完整性的干扰,避免数据传输速率下降或误码率增加,特别适合用于5G通信和高速串行接口等高频应用。
其次,PESD5V0L2UMB,315具有极低的钳位电压,在遭受静电放电时能够迅速将电压钳制在安全范围内,从而有效保护后端IC免受损坏。其击穿电压最低为5.5V,确保在5V系统中稳定工作,同时具备良好的电压抑制能力。
此外,该器件的响应时间小于1ns,能够在静电事件发生的瞬间迅速动作,提供即时保护。其漏电流极低(最大100nA),在正常工作状态下几乎不会影响系统的功耗或性能。
该器件采用DFN1006-3封装,体积小巧,便于在空间受限的便携式设备和高密度PCB布局中使用。其无铅封装符合RoHS环保标准,适用于现代电子制造要求。
最后,PESD5V0L2UMB,315符合IEC 61000-4-2标准中关于静电放电抗扰度的最高等级要求(接触放电8kV,空气放电15kV),适用于工业、消费电子和汽车电子等多种应用场景。
PESD5V0L2UMB,315 广泛应用于需要ESD保护的高速数据接口,例如USB 2.0/3.0、HDMI、DisplayPort、以太网、VGA、音频接口和智能卡接口等。它特别适用于智能手机、平板电脑、笔记本电脑、数码相机和可穿戴设备等便携式电子产品,以确保设备在频繁插拔和日常使用中免受静电损害。此外,该器件也适用于工业控制系统、通信设备和汽车电子模块,为高可靠性系统提供强大的静电防护。
PESD5V0L2BS, PESD5V0L2BC, PESD5V0L2UC,115