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IRFHM8228 发布时间 时间:2025/12/26 21:23:18 查看 阅读:10

IRFHM8228是一款由Infineon Technologies(英飞凌)生产的高性能、耐辐射的功率MOSFET器件,专为航空航天、卫星系统和高可靠性工业应用设计。该器件基于先进的沟道MOSFET技术,具备优异的导通性能和开关特性,同时在极端环境条件下仍能保持稳定工作。IRFHM8228采用高压工艺制造,具有较高的击穿电压能力,适用于需要高电压阻断能力和高效率功率转换的应用场景。其设计符合严格的宇航级质量标准,包括抗总电离剂量(TID)辐射和单粒子效应(SEE)防护能力,能够在太空辐射环境中长期可靠运行。该器件通常用于电源管理系统、DC-DC转换器、电机驱动以及航天器中的功率控制单元中。封装形式采用陶瓷金属化气密封装(Ceramic Hermetic Package),以确保在真空、高低温循环等恶劣空间环境下的机械与电气稳定性。此外,IRFHM8228通过了QML-V或类似宇航级认证流程,保证每批次器件都经过严格的筛选、测试和验证,满足高可靠性应用场景的需求。

参数

型号:IRFHM8228
  制造商:Infineon Technologies
  类型:N沟道MOSFET
  最大漏源电压(VDS):100 V
  最大连续漏极电流(ID):45 A
  导通电阻(RDS(on)):典型值10 mΩ @ VGS = 10 V
  栅极阈值电压(VGS(th)):典型值3.0 V
  最大栅源电压(VGS):±20 V
  功耗(PD):250 W
  工作结温范围(TJ):-55°C 至 +175°C
  封装类型:TO-263B(D2PAK)
  辐射耐受性:总电离剂量(TID) > 100 krad(Si),单粒子烧毁(SEB)抗扰度 > 75 MeV·cm2/mg

特性

IRFHM8228具备卓越的耐辐射性能,使其成为航天电子系统中的关键功率元件。其抗总电离剂量能力超过100 krad(Si),能够在长时间暴露于宇宙射线和太阳粒子事件下保持稳定的电气特性,避免因氧化层电荷积累导致的阈值漂移或漏电流增加。更重要的是,该器件对单粒子效应(SEE)具有高度免疫力,特别是单粒子烧毁(SEB)和单粒子瞬态(SET),其抗SEB LET阈值高于75 MeV·cm2/mg,确保在高能粒子撞击时不会发生灾难性失效。这种可靠性源于优化的元胞设计和漂移区掺杂工艺,有效抑制了寄生双极晶体管的触发。
  该器件采用增强型N沟道结构,在正常工作条件下需要正栅压驱动,关断状态时具有极低的漏电流,有助于降低静态功耗。其低导通电阻(仅10 mΩ)显著减少了导通损耗,提升系统整体效率,尤其适用于大电流开关应用如DC-DC变换器和负载开关。热性能方面,得益于高功率封装(TO-263B)和出色的热阻特性(RθJC低至0.5°C/W),IRFHM8228可在高温环境下持续运行而无需额外散热措施。此外,其宽泛的工作结温范围(-55°C至+175°C)适应了从深空低温到近地轨道日照面高温的各种极端条件。
  IRFHM8228还具备良好的动态性能,包括快速开关速度和较低的栅极电荷(Qg),这有助于减少开关损耗并提高PWM控制精度。其栅极驱动电压兼容标准逻辑电平(通常10V~15V),便于与现有宇航级驱动电路集成。所有器件均经过100%的辐射测试和可靠性筛选,符合MIL-PRF-19500或ESCC标准要求,确保批次一致性与长期可追溯性。

应用

IRFHM8228广泛应用于对可靠性和环境适应性要求极高的领域,尤其是航天航空电子系统。它常被用于卫星电源管理系统中的主功率开关,例如母线调节器、太阳能阵列控制器和电池充电/放电模块,能够高效处理数十安培级别的负载电流。在深空探测任务中,该器件用于各类DC-DC升压或降压转换器,为星载计算机、通信设备和科学仪器提供稳定电源。由于其出色的抗辐射能力,IRFHM8228也适用于地球同步轨道(GEO)、极轨及星际飞行器等长期暴露于强辐射带的平台。
  此外,该器件可用于军用飞机、高空无人机和导弹制导系统的电源管理单元,在面临电磁干扰和温度剧烈变化的环境中仍能保持稳定运行。在地面高可靠性工业应用中,如核设施监控系统或粒子加速器控制电路,IRFHM8228也能发挥其抗辐射优势。其气密性封装还可防止湿气侵入和金属迁移,延长使用寿命,适合部署在无法维护或维修成本极高的封闭系统中。

替代型号

IRFH5020PBF
  IRLHM8228

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