FDB28N30TM 是一款由 Fairchild Semiconductor(飞兆半导体)生产的 N 沟道增强型功率 MOSFET。该器件专为高效率、高频率开关应用设计,具有较低的导通电阻和优异的热性能。它广泛应用于电源管理、DC-DC 转换器、电机控制、负载开关以及电池供电设备等领域。FDB28N30TM 采用先进的平面技术制造,具有良好的可靠性和耐用性,适用于中高功率应用场景。
类型:N 沟道 MOSFET
最大漏源电压(VDS):30 V
最大栅源电压(VGS):±20 V
最大连续漏极电流(ID):180 A(在 25°C 下)
导通电阻(RDS(on)):最大 2.8 mΩ(在 VGS = 10 V 时)
工作温度范围:-55°C 至 175°C
封装类型:TO-263(D2PAK)
功率耗散(PD):250 W
输入电容(Ciss):约 3600 pF(典型值)
FDB28N30TM 具有多个关键特性,使其在功率应用中表现出色。首先,其超低导通电阻 RDS(on) 可显著降低导通损耗,提高系统效率。其次,该 MOSFET 的高电流承载能力(最高可达 180A)使其适用于高功率密度设计。此外,该器件具有优异的热管理能力,得益于其 D2PAK 封装设计,可以有效散发热量,确保在高负载条件下稳定运行。
其快速开关特性也有助于降低开关损耗,提高整体系统性能。另外,FDB28N30TM 的栅极驱动电压范围较宽(典型工作电压为 4.5V 至 20V),适用于多种驱动电路设计。该器件还具备较高的耐用性和抗静电能力,适合在复杂电磁环境中使用。
FDB28N30TM 被广泛应用于多个领域,包括但不限于:高性能 DC-DC 降压/升压转换器、同步整流器、电机驱动器、电源管理系统、服务器和电信设备电源、电池管理系统(BMS)、工业自动化设备以及电动汽车充电模块等。由于其高效率和高电流能力,该 MOSFET 特别适合用于需要高能效和紧凑设计的现代电源系统。
FDB28N30TM 的替代型号包括 FDB30N30TM、FDB29N30TM 和 SiR872DP。这些型号在电气特性和封装上具有相似性,适用于类似的高功率应用。但在替代使用前,建议详细核对电气参数和封装尺寸以确保兼容性。