类型：模数转换器（ADC）
　　位数：8位
　　采样率：典型值250 kSPS
　　输入电压范围：0 V 至 +2.5 V（单端）
　　供电电压：+5 V（±5%）
　　工作温度范围：0°C 至 +70°C
　　接口类型：并行输出
　　转换时间：4 μs
　　架构：逐次逼近寄存器（SAR）
　　封装形式：DIP-16
　　是否内置时钟：是
　　是否内置基准源：是
　　输入类型：单端
　　非线性误差：±1 LSB

AD670JNZ的核心架构基于逐次逼近寄存器（SAR）原理，这种结构在中速ADC中具有显著优势，兼具较快的转换速度与较低的功耗。其转换过程由内部时钟驱动，用户无需外接时钟源，极大降低了系统设计复杂度。当启动转换后，SAR逻辑依次比较输入电压与内部DAC产生的参考阶梯电压，经过8个时钟周期完成逐位判定，最终输出对应的8位二进制码。整个转换时间约为4微秒，对应最大采样速率可达每秒25万次（250 kSPS），足以满足多数实时性要求不极端严苛的应用场景。
　　该芯片集成了高性能的采样保持放大器（SHA），可在极短时间内捕捉并稳定模拟输入信号，确保在转换过程中输入电压保持恒定，从而提高测量精度和动态性能。这对于处理快速变化的模拟信号尤为重要，例如在电机控制反馈回路或多通道轮询采集中，能够有效减少由于信号波动引起的量化误差。同时，内部集成的+2.5V精密基准电压源不仅节省了外部元件空间，还提升了系统的整体稳定性与一致性，避免了因外部基准漂移而导致的测量偏差。
　　AD670JNZ采用+5V单电源工作，符合TTL/CMOS电平兼容标准，可直接与大多数微控制器、FPGA或数字逻辑电路接口，无需额外的电平转换芯片。其并行数据输出方式支持快速读取，适合需要高吞吐量但引脚资源充足的系统设计。此外，该器件具有良好的直流精度指标，如±1LSB的典型非线性误差，保证了输出数据的线性度和重复性。虽然其8位分辨率相较于现代12位或16位ADC略显不足，但在诸如开关量监测、温度分级控制、音频压缩检测等对绝对精度要求不高但需快速响应的应用中仍具实用性。
　　在可靠性方面，AD670JNZ经过工业级设计验证，可在0°C至+70°C的商业温度范围内稳定运行，具备较强的抗电磁干扰能力。其DIP-16封装便于手工焊接与维修，特别适合教学实验、原型开发及老旧设备替换。尽管目前已有更先进的替代型号推出，但由于其成熟的技术生态和广泛的文档支持，AD670JNZ仍在某些特定领域维持着一定的市场存在感。

AD670JNZ主要用于中低速模拟信号采集系统，典型应用场景包括工业过程控制中的传感器信号调理模块，例如压力、温度、流量等变送器输出的电压信号数字化。在自动化生产线中，它可用于将来自光电传感器或位置检测装置的模拟反馈转换为数字量供PLC或微控制器处理。此外，在测试与测量仪器如数字示波器前端、便携式数据记录仪中，AD670JNZ凭借其集成化的结构和稳定的性能，能够实现快速、可靠的信号采样。教育实验平台也常采用该芯片作为ADC教学案例，帮助学生理解逐次逼近型转换原理及其时序控制机制。在医疗电子设备中，如简易心率监测仪或呼吸频率检测装置中，AD670JNZ可用于对生物电信号进行初步量化处理。由于其并行接口特性，该器件适用于与8位或16位微处理器直接连接的嵌入式系统，常见于上世纪80年代至90年代的工控机、单板机系统中。尽管当前主流趋势转向更高分辨率和串行接口的ADC，AD670JNZ在设备维护、备件替换以及特定兼容性需求场合仍发挥着作用。

AD670KNZ