比表面分析仪广泛应用于粉末、颗粒、纤维及片状材料及其他材料的比表面测定，特别适用于磷酸铁锂、钴酸锂、锰酸锂、石墨、氢氧化镍等电极材料。是生产、科研和教学工作中不可或缺的仪器设备。
SPECTester比表面分析仪实验仪使用的光谱技术，可分析多达六种组分组成的样品，并提供简明分析报告显示样品分离的量和分离原因。SPECTester比表面分析仪自动提供成分浓度、粒度区别，产品的差异性数据。SPECTester实验仪通过测定粒度、筛选、液化、静止角度、化学成分和空气夹带来判断样品分离度。
·触摸屏/键盘控制
·提供组分浓度，粒度区别，产品差异等信息
·从四种特定类型中识别初始分离机制
·多达50个分离测试点
·识别过程设计参数以及质量控制问题
·数据可以Excel形式输出
· SPECTester比表面仪分析速度快-视样品和应用，10-30分钟内可完成样品检测
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