对于X射线，在其穿透被测材料后，射线强度I的衰减规律为
    式中 I0———入射射线强度；
    μ———吸收系数；
    h———被测材料的厚度。
    当μ和I0一定时，I仅仅是板厚h的函数，所以测出I就可以知道厚度h。
    X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
    X射线源辐射强度的大小，与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度，为了确定其所需的X射线能量值，可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，使检测能够顺利完成。
    在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开，X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过，被测钢板将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。

    1、上照式
    2、测试组件可升降
    3、高精度移动平台
    4、小准直器
    5、高分辨率探头
    6、可视化操作
    7、自动定位高度
    8、自动寻找光斑
    9、鼠标定位测试点
    10、良好的射线屏蔽
    11、超大样品腔设计
    12、测试口安全防护
    X射线测厚仪技术指标
    型号：Thick 800A
    元素分析范围从硫（S）到铀（U）。
    一次可同时分析多24个元素或五层以上镀层。
    元素分析检出限可达2ppm，分析含量一般为2ppm到99.9％。
    镀层厚度薄可达0.005um，一般在20um内（不同材料有所不同）。
    小孔准直器（小直径0.1mm），测试光斑在0.2mm以内。
    高精度移动平台（定位精度小于0.005mm）。
    任意多个可选择的分析和识别模型。
    相互独立的基体效应校正模型。
    多次测量重复性可达0.05um（对少于1um的外层Au）。
    长期工作稳定性为0.1um（对少于1um的外层Au）。
    温度适应范围为15℃至30℃。
    电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
    仪器尺寸：576 x 495x545 mm
    重量：90 kg
    X射线测厚仪标准配置
    开放式样品腔。
    精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
    双激光定位装置。
    铅玻璃屏蔽罩。
    Si-Pin探测器。
    信号检测电子电路。
    高低压电源。
    X光管。
    高度传感器
    保护传感器
    计算机及喷墨打印机
    X射线测厚仪应用领域
    黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
    金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
    主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。