HY(IC)IC卡动态弯曲试验机技术参数:

    本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 完全符合以上标准。

    外形尺寸：L670 X W380 X H220

    仪器重量：70kg

    电 压：AC220V±5%

    功 率：35W

    测试速度：弯曲 扭曲30r/min及0.5Hz

    测试周期：1~9999次

    扭曲度 ：±15°±1° 双向d=86 mm

    正反向各15°，总扭曲角度30°

    长边大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

    长边小位移量为2mm±0.50mm，

    短边大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

    长边小位移量为1mm±0.50mm，

    夹具安装尺寸完全按照国家标准执行。

    3、产品用途：

    用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。

    公司承诺：

    1.购机前，我们专门派技术人员为您设计佳的流程和方案

    2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装

    3.整机保修一年，产品终身维护

    4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用