▲ FC、SC、ST、LC等多种类型适配器
   ▲ 有PC、UPC、APC三种形式
   ▲ FC、SC、ST、LC等各种型号和规格的尾纤（包括带状和束状），芯数从单芯到12芯不等。

   1．光源选择
   测试光源是测试系统的激励源，由于用于测试而非用于传输，一般来说不需要功率太高，激光光源0dBm，宽谱源-10dBm/nm足以满足测试要求。同样因为是用于测试，光源的功率稳定度相当重要，除此之外还有一个相干长度的问题。其实任何激光光源都有相干长度的问题，一般FP或DFB激光光源的相干长度为1，000米或更长，人为使激光器的线宽变宽后也有10米左右，这就是说，只要测试系统的光路短于这个长度，就会有干涉，测试就会测不准或者可靠性降低。有一种基于掺铒光纤环的可调谐激光器很好地解决了这一问题，该激光器相干长度只有15厘米，而器件测试长度一般1～3米，所以一定不会有相干的影响，从而使测试值的稳定度、重复性和可靠性都非常高，是一种非常适合于器件测试的光源。
   2．功率计选择
   功率计探测器的材料大致决定了功率计的整体性能，一般有Ge、Si、InGaAs等材料的探测器，除此之外还有一种低偏振反映度(PDR)探测器，这种探测器是在InGaAs探测器的基础上添加一些材料使得其对PDL非常不敏感，所以很适合用于PDL的测试。
   3．偏振控制器选择
   对随机扫描Poincare球偏振控制器(PC)而言，扫描周期、覆盖Poincare球面积、偏振光经过PC情况以及由于PC导致的光功率波动值等都是一些关键参数。这些参数的意思很容易理解，这里只想着重论述由于PC导致的光功率波动对测试的影响。我们知道PDL的测试其实就是探测当传输光偏振态(SOP)发生变化时，通过被测器件的光功率变化的值，所以如果由于其它原因导致光功率发生变化，测试系统就会误以为这也是PDL，导致PDL测试过大。所以对于PC而言，光功率波动值将直接影响测试的准确度。
   4.测试系统的选择
   所谓测试系统主要是指两个以上测试表或模块联合工作，形成组合之后新的操作界面，并完成自动测试的测试设备。传统系统搭建是通过一台计算机，用GPIB口控制几台光测试仪表进行，这里着重介绍通过模块组装系统的方法。其主要思路是，测试主机本身就是一台标准电脑，测试主机带有5个插槽，可以插入测试模块，组成简单的系统，对于大的测试系统还可添加扩展机，主机与扩展机之间通过数据线连接。这样扩展机上的槽位与主机上的槽位没有任何区别，插在扩展机上的模块与插在主机上的模块在数据传输速率上也没有任何区别，所以这种组建测试系统的方法使得系统数据传输速度非常快，操作也很方便。扩展机上还可级联扩展机，以组成更大的系统，所以扩容性非常好，
   本文结论
   本文从测试工位的拓扑结构以及测试设备选择两个角度论述了测试工艺的可靠性、精度与重复性。其实光器件的生产工艺是很复杂的学问，不是简单几句话就可说清楚，不同的产品工艺均有所不同，值得深入研究，这样才不至于出了问题还不清楚出了什么问题而手忙脚乱。