型号：XL1SI-111-25M
　　输出频率：25MHz
　　频率稳定性（整个温度范围）：±25ppm
　　工作温度范围：-40°C 至 +85°C
　　存储温度范围：-55°C 至 +125°C
　　供电电压：3.3V ±5%
　　输出类型：LVDS（低压差分信号）
　　上升/下降时间：≤1.5ns
　　相位抖动（12kHz～20MHz）：典型值0.3ps RMS
　　老化率（第一年）：±3ppm/年
　　最大功耗：90mW
　　封装尺寸：7.0mm × 5.0mm × 1.8mm
　　安装方式：表面贴装（SMD）
　　输入电源电流：典型值25mA
　　占空比：45% ~ 55%
　　输出负载匹配：100Ω 差分终端电阻

XL1SI-111-25M作为一款高性能LVDS输出晶体振荡器，具备卓越的电气性能与环境适应能力。其核心优势在于极低的相位噪声表现，在10kHz偏移下测得的单边带相位噪声可低至-155dBc/Hz，这使得它非常适合对时钟纯净度要求极高的射频通信、高速串行链路及时钟恢复系统等应用场景。在宽温条件下，该器件仍能维持±25ppm以内的总频率偏差，包括初始公差、温度变化、老化效应等因素的综合影响，从而保证系统长期运行中的时间基准准确性。其LVDS输出接口支持高速差分信号传输，有效抑制共模干扰，提升信号完整性和电磁兼容性（EMC），特别适用于千兆以太网、SONET/SDH、FPGA时序同步及ADC/DAC采样时钟驱动等场合。
　　该振荡器采用密封陶瓷封装结构，内部填充惰性气体并使用金属盖板封焊，防止湿气侵入和外部污染，显著提高长期可靠性与耐久性。内部石英晶片经过严格的筛选与老化处理，并结合先进的振荡电路设计，实现了低功耗与高Q值的平衡。其快速启动时间通常小于5ms，满足多数实时系统对上电响应速度的要求。同时，该器件具有较低的电源敏感性，即使在轻微波动的供电环境中也能保持稳定的输出频率，增强了系统的鲁棒性。此外，Crystek在制造过程中执行严格的质量控制流程，确保每批次产品的一致性与可追溯性，适用于军工、航空航天及高端工业领域的严苛环境需求。

XL1SI-111-25M主要应用于对时钟精度、稳定性和信号质量有高标准要求的电子系统中。常见用途包括高速通信基础设施，如光传输网络（OTN）、同步数字体系（SDH/SONET）设备、基站射频单元与时钟再生模块；在数据中心和企业级网络交换机中，用作主控芯片、PHY收发器或SerDes接口的参考时钟源。此外，该器件也广泛用于精密测试与测量仪器，例如示波器、频谱分析仪和信号发生器，为其提供低抖动的时间基准以保障测量精度。
　　在工业自动化领域，XL1SI-111-25M可用于PLC控制器、运动控制卡及高分辨率数据采集系统中的定时同步功能。其差分LVDS输出特性使其成为FPGA、ASIC和DSP等高性能处理器的理想时钟输入源，特别是在多通道同步采样或多芯片协同工作的架构中发挥关键作用。此外，在雷达系统、卫星通信终端和软件定义无线电（SDR）平台中，该振荡器能够为上下变频、数字下变频（DDC）和数字锁相环（DPLL）提供干净且稳定的本振信号，有助于降低误码率并提升系统整体性能。由于其符合工业级温度规范和可靠性标准，也可用于恶劣环境下的户外设备或车载电子系统。

CSLVS-111-25M
　　CXLSI-111-25M