时间:2025/12/5 9:17:44
阅读:20
VLF302515MT-R47N是一款由TDK公司生产的多层片状铁氧体磁珠,属于VLF系列,专为高频噪声抑制而设计。该器件主要用于便携式电子设备中,如智能手机、平板电脑、可穿戴设备以及其他对空间和性能要求较高的应用场合。其小型化封装尺寸为3.0mm x 2.5mm x 1.5mm,符合工业标准的EIA 1210封装规格,适合表面贴装技术(SMT)自动化生产。作为一款高性能的EMI滤波元件,VLF302515MT-R47N能够在高速信号线路或电源线路中有效抑制高频噪声,同时保持低直流电阻以减少功率损耗。该磁珠在射频电路、音频线路、USB接口、摄像头模块、LCD背光驱动等场景中广泛应用。其结构采用先进的陶瓷工艺与内部电极叠层技术,确保了稳定的电气性能和良好的温度稳定性。此外,该器件具有良好的耐热性和焊接可靠性,能够承受回流焊过程中的高温冲击,适用于无铅焊接工艺。由于其高阻抗特性在特定频率范围内表现优异,因此在现代高密度PCB布局中成为不可或缺的噪声对策元件之一。
产品系列:VLF
封装尺寸:3.0mm x 2.5mm x 1.5mm (EIA 1210)
直流电阻(DCR):最大0.65Ω
额定电流:500mA
阻抗值(Z):47Ω @ 100MHz
测试频率:100MHz
工作温度范围:-55℃ ~ +125℃
存储温度范围:-55℃ ~ +150℃
电感类型:磁珠(EMI滤波器)
安装方式:表面贴装(SMD)
端接材料:镍/锡镀层
阻抗公差:±25%
RoHS合规性:符合
VLF302515MT-R47N具备卓越的高频噪声抑制能力,其核心优势在于在100MHz频率下可提供高达47Ω的阻抗值,能够有效吸收并衰减高频干扰信号,从而提升系统的电磁兼容性(EMC)。该磁珠采用TDK独有的低温共烧陶瓷(LTCC)技术和内部多层铁氧体材料设计,使其在宽频范围内展现出平坦且稳定的阻抗特性,尤其在几十MHz到数GHz的频段内表现出色。这种特性使得它非常适合用于高速数字信号线如MIPI、USB、HDMI等接口的噪声滤波,防止串扰和信号失真。此外,其低直流电阻(最大0.65Ω)确保在通过额定电流(500mA)时产生的电压降和功耗极小,不会显著影响电源效率或导致温升问题,因此也可应用于低电压、大电流的电源路径中进行去噪处理。
该器件还具有优异的温度稳定性和长期可靠性,在-55℃至+125℃的工作温度范围内性能变化极小,适应严苛环境下的使用需求。其结构设计增强了机械强度和抗热应力能力,能承受多次回流焊过程而不损坏,支持无铅焊接工艺,符合现代绿色制造的要求。此外,VLF302515MT-R47N的小型化封装使其在高密度印刷电路板(PCB)布局中占用空间极少,有助于实现终端产品的轻薄化设计。整体而言,这款磁珠结合了高性能、小型化、高可靠性和环保特性,是现代消费类电子产品中理想的EMI抑制解决方案之一。
VLF302515MT-R47N广泛应用于各类便携式消费电子设备中的电磁干扰(EMI)抑制场景。典型应用包括智能手机和平板电脑中的射频模块、Wi-Fi/蓝牙天线线路、GPS信号路径以及音频输入输出通道,用于消除高频噪声以提高信号质量和通信稳定性。在摄像头模组中,该磁珠常被用于MIPI数据线或供电线上,防止高速传输过程中产生的噪声耦合到其他敏感电路。此外,在LCD显示屏的背光驱动电路或电源管理单元(PMU)输出端,该器件可用于抑制开关电源引起的高频纹波,提升显示效果和系统稳定性。USB 2.0/3.0接口、Type-C连接器、SD卡插槽等高速外设接口也常采用此类磁珠进行信号完整性保护。在可穿戴设备如智能手表、TWS耳机中,由于空间极为有限且对EMI要求严格,VLF302515MT-R47N凭借其小型封装和高效滤波性能成为优选方案。工业控制、医疗电子及物联网(IoT)设备中,凡涉及高频信号传输或需通过EMC认证的场合,均可利用该磁珠实现可靠的噪声抑制。
BLM31PG470SN1D
ACFF312515A470-T000
DLW31SQ470XK2