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SE5539N 发布时间 时间:2025/12/27 22:00:12 查看 阅读:17

SE5539N是一款高性能、低功耗的模拟前端(AFE)芯片,广泛应用于工业控制、精密测量和信号调理系统中。该器件集成了多通道输入、可编程增益放大器(PGA)、高分辨率模数转换器(ADC)以及片上参考电压源,能够实现对微弱模拟信号的精确采集与数字化处理。SE5539N采用先进的CMOS工艺制造,具备良好的温度稳定性和抗干扰能力,适用于在恶劣环境条件下运行的高可靠性系统。其设计目标是为需要高精度数据采集的应用提供一个紧凑且高效的解决方案,减少外部元件数量并简化电路设计复杂度。该芯片通常工作于单电源供电模式,支持多种输出数据速率配置,允许用户根据具体应用需求在分辨率、速度和功耗之间进行权衡优化。封装形式为16引脚DIP或SOIC,便于手工焊接和自动化生产装配。

参数

型号:SE5539N
  制造商:Exar Corporation(现属Maxim Integrated)
  通道数:4路差分/8路单端输入
  ADC分辨率:24位
  采样速率:最高120 SPS(每秒采样次数)
  非线性误差(INL):±2 ppm FSR
  增益范围:1至128 V/V,可编程
  输入电压范围:0~VREF(单极性),±VREF(双极性)
  参考电压输入:2.5V外部或内部基准
  电源电压:4.5V 至 5.5V
  工作电流:典型值1.2mA(低功耗模式下可更低)
  工作温度范围:-55°C 至 +125°C
  接口类型:SPI串行接口(兼容三线或四线模式)
  封装类型:16-Pin DIP, 16-SOIC

特性

SE5539N的核心特性之一是其内置的24位Σ-Δ型ADC,结合可编程增益放大器(PGA),能够在极低的输入信号幅度下实现高精度测量。该ADC采用斩波稳定技术和数字滤波算法,有效抑制了偏移电压漂移和闪烁噪声(1/f噪声),从而显著提升了长期稳定性与测量重复性。其信噪比(SNR)可达110dB以上,在满量程输入条件下可提供超过21位的有效分辨率(ENOB)。此外,芯片内部集成了可选择的数字滤波器,包括sinc3和有限脉冲响应(FIR)滤波结构,支持用户在不同应用场景中灵活设定输出更新率和抗混叠性能。例如,在高速模式下可达到120SPS的数据输出速率,而在超高精度模式下可通过过采样和平均技术将有效分辨率进一步提升至24位无噪声码。另一个关键特性是其多路复用输入架构,支持最多四个差分传感器输入通道或八个单端信号通道,并可通过SPI接口动态切换通道,实现多点同步监测。所有模拟输入均具有过压保护功能,可承受±13V的瞬态电压冲击,增强了系统在工业现场的鲁棒性。芯片还配备了一个低漂移、高精度的内部参考电压源(2.5V ±0.1%),同时允许接入外部参考以满足更高精度要求。SPI通信接口支持主从模式操作,数据传输速率最高可达5MHz,并具备CRC校验和故障检测机制,确保数据完整性。SE5539N的工作温度范围覆盖军用级标准(-55°C至+125°C),使其不仅适用于商业和工业设备,也可用于航空航天、石油勘探等极端环境下的精密测量任务。
  

应用

SE5539N常被用于需要高精度模拟信号采集的工业自动化与测试测量设备中。典型应用包括称重传感器信号调理系统(如电子天平、料斗秤)、热电偶和RTD温度测量模块、压力变送器、医疗仪器中的生物电信号采集前端(如心电图机、血压监测仪)、工业PLC模拟输入卡以及便携式数据记录仪。由于其宽输入电压范围和高共模抑制比(CMRR > 100dB),该芯片特别适合处理来自桥式传感器(如应变计)的微伏级差分信号。在智能传感器节点中,SE5539N可以作为核心AFE单元,配合微控制器完成本地信号预处理,再通过数字接口上传至中央控制系统。此外,它也广泛应用于能源管理系统中的电流/电压监测单元,尤其是在需要长时稳定性和低温漂特性的电力监控场合。得益于其小尺寸封装和低功耗特性,SE5539N同样适用于电池供电的远程传感终端,在保证测量精度的同时延长设备续航时间。在研发和教育领域,该芯片因其接口简单、配置灵活而成为高校实验平台和嵌入式开发项目中常用的高精度ADC解决方案之一。

替代型号

XR4539N
  MAX11240
  ADS1256

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