PUMD10,115 是一款由NXP Semiconductors(恩智浦半导体)生产的双N沟道增强型功率MOSFET芯片,主要用于高效率功率开关应用。该器件采用小型DFN(Dual Flat No-lead)封装,具有低导通电阻、高电流能力和良好的热性能,适用于电源管理和负载开关等场景。PUMD10,115在设计上优化了开关损耗,提高了系统整体效率。
类型:功率MOSFET
沟道类型:双N沟道增强型
漏源电压(Vds):20V
连续漏极电流(Id):5.4A(单通道)
导通电阻(Rds(on)):15mΩ(典型值)
栅极电压(Vgs):±12V
封装类型:DFN1010
工作温度范围:-55°C至150°C
功率耗散(Pd):1.6W
PUMD10,115的主要特性包括双N沟道MOSFET结构,能够在单个封装内实现两个独立的功率开关,适用于需要高集成度和空间紧凑的设计。其低导通电阻(Rds(on))可显著降低导通状态下的功率损耗,从而提高系统效率。此外,该器件具有较高的电流承载能力,支持5.4A连续漏极电流,适用于中高功率应用场景。
该MOSFET采用DFN1010封装,具有优异的热管理性能,能够有效散热并维持稳定的运行温度。其小型封装设计也便于PCB布局,适用于便携式设备和空间受限的应用。PUMD10,115的工作温度范围为-55°C至150°C,具备良好的环境适应性和可靠性,适合工业级应用。
该器件的栅极驱动电压范围为±12V,支持常见的逻辑电平控制,便于与微控制器或其他数字电路配合使用。同时,其优化的开关特性降低了开关损耗,使得该器件在高频开关应用中表现出色,适用于DC-DC转换器、负载开关和电机控制等电路。
PUMD10,115 主要应用于电源管理系统、DC-DC转换器、负载开关、电池管理电路以及电机控制模块等场景。由于其低导通电阻和高电流能力,特别适用于需要高效能和高可靠性的电源开关设计。该器件也广泛用于工业自动化设备、便携式电子产品以及汽车电子系统中的功率控制部分。
PUMD10,115的替代型号包括PUMD3.7,115和PMV48XP,118,具体选择需根据设计需求进行参数匹配。