PTVS30VP1UTP,115 是由 NXP Semiconductors(恩智浦半导体)生产的一款射频功率晶体管(RF Power Transistor),采用LDMOS(横向扩散金属氧化物半导体)技术制造,适用于高频、高功率应用。这款晶体管设计用于在30MHz至1GHz的频率范围内工作,具备高增益、高效率和出色的热稳定性能,常用于基站、无线基础设施、广播设备等通信系统。
类型:射频功率晶体管
晶体管类型:N沟道增强型LDMOSFET
漏极电流(Id):连续漏极电流可达12A
漏源电压(Vds):65V
栅源电压(Vgs):最大±10V
工作频率范围:30MHz - 1GHz
输出功率(Pout):典型值为30W(在UHF频段)
增益:典型值为22dB
效率:典型值为65%
封装类型:TO-220AB
热阻(Rth):结到壳热阻约1.2°C/W
PTVS30VP1UTP,115 采用先进的LDMOS技术,具有高功率密度和优异的线性性能,能够在宽频率范围内保持稳定的放大能力。其高增益特性减少了对前级放大器的要求,从而简化了系统设计。此外,该器件具有良好的热稳定性,能够在高功率输出条件下保持较低的结温,延长器件寿命。
该晶体管的封装设计具有良好的散热性能,便于安装在散热器上以提高热传导效率。其高效率特性(典型65%)有助于降低功耗,提高系统能效,减少散热需求。此外,该器件具有良好的抗失真能力,适用于要求高信号完整性的通信系统。
在射频性能方面,PTVS30VP1UTP,115 在30MHz至1GHz范围内表现出优异的宽带匹配特性,使得其适用于多种通信标准,如GSM、CDMA、WCDMA、LTE等。该器件的输入和输出阻抗匹配良好,可减少外部元件的使用,降低设计复杂度。
此外,该晶体管具备较高的可靠性和稳定性,适用于严苛环境下的长期运行。其栅极保护二极管设计增强了抗静电能力,提高了器件的抗干扰能力。
PTVS30VP1UTP,115 主要应用于无线通信基础设施,如蜂窝基站、广播设备、射频测试仪器等。其高功率输出能力和良好的线性性能使其适用于各种射频功率放大器设计。在蜂窝通信系统中,该晶体管可用于GSM、CDMA、WCDMA、LTE等标准的基站发射模块中,提供高效的射频功率放大功能。
在广播系统中,该器件可用于调频(FM)广播发射机的末级功率放大器,提供稳定的高功率输出。在射频测试设备中,PTVS30VP1UTP,115 可用于构建射频信号发生器或功率放大模块,为测试系统提供足够的输出功率。
此外,该晶体管还可用于工业、科学和医疗(ISM)频段的射频设备中,如射频加热、等离子体发生器、射频识别(RFID)系统等。其良好的热稳定性和高可靠性也使其适用于户外和移动通信设备中的射频功率放大模块。
PTVS30VP1UH6,115 / PTVS25010PF9 / AFT05MP07N / MRF151G