PESD4USB3U-TBRX是一款由Nexperia(安世半导体)推出的静电放电(ESD)保护二极管阵列,专为高速数据接口设计。该器件主要应用于USB 3.0/3.1接口,为高速数据线提供高效、可靠的ESD保护。该芯片采用小型DFN封装,具有低电容和快速响应时间的特点,能够有效防止静电放电对电子设备造成的损害,同时不影响高速信号的完整性。
工作电压:5.5V
反向关态电压(VRWM):5V
钳位电压(Vclamp):最大9.5V(在IEC 61000-4-2等级4条件下)
峰值脉冲电流(IPP):3A(8/20μs波形)
电容(C):典型值0.35pF(在1MHz频率下)
响应时间:小于1ns
封装类型:DFN1006-6(1.0mm x 0.6mm)
温度范围:-55°C至+150°C
符合标准:IEC 61000-4-2 Level 4(±8kV接触放电)
PESD4USB3U-TBRX具备出色的ESD保护性能,其响应时间小于1纳秒,可在静电放电事件发生时迅速将高压脉冲导通至地,保护后端电路不受损害。该器件的钳位电压较低,在ESD冲击下能够将电压限制在安全范围内,从而避免损坏敏感的集成电路。其最大钳位电压为9.5V,远低于许多高速接口IC所能承受的极限。此外,该芯片的反向关态电压为5V,适用于5V电源域的保护。
该器件的电容特性非常出色,典型值仅为0.35pF,适用于高速数据传输接口,如USB 3.0和USB 3.1。低电容有助于减少信号失真和插入损耗,确保数据传输速率高达5Gbps甚至更高时仍能保持信号完整性。此外,PESD4USB3U-TBRX采用DFN1006-6超小型封装,尺寸仅为1.0mm x 0.6mm,非常适合空间受限的便携式电子产品设计,如智能手机、平板电脑和可穿戴设备等。
该器件符合IEC 61000-4-2 Level 4标准,可承受±8kV接触放电和±15kV空气放电,提供最高级别的ESD防护。其峰值脉冲电流能力为3A(8/20μs波形),在高能量冲击下仍能保持稳定性能。此外,该芯片的工作温度范围广泛,从-55°C至+150°C,适用于各种严苛环境下的应用。
PESD4USB3U-TBRX广泛应用于需要高速数据接口ESD保护的电子设备中,如智能手机、平板电脑、笔记本电脑、USB集线器、外部硬盘驱动器(HDD/SSD)以及各种外设接口。其低电容特性使其特别适用于USB 3.0、USB 3.1和Thunderbolt等高速数据传输接口,确保信号完整性不受影响。此外,该器件也可用于HDMI、DisplayPort、SATA、PCIe等高速接口的ESD保护。在工业控制、消费电子、汽车电子等领域,PESD4USB3U-TBRX均可提供可靠的静电放电保护,提升系统的稳定性和可靠性。
PESD4USB3UW, PESD4USB3UX, PESD4USB3U-04SO