PESD1USB3B/CX 是一款专为USB 3.0接口设计的静电放电(ESD)保护器件,由NXP Semiconductors(恩智浦半导体)制造。该芯片主要用于保护高速USB 3.0数据线路免受静电放电、瞬态电压和其它电磁干扰的影响,确保设备在恶劣环境下的稳定运行。该器件采用小型化的DFN封装(无引脚封装),非常适合空间受限的便携式电子设备。PESD1USB3B/CX 专为在高速信号完整性要求较高的应用中使用而设计,其低电容特性确保了对USB 3.0高速信号传输(最高可达5 Gbps)的影响最小。
类型:ESD保护二极管阵列
通道数:2
工作电压:5.5V
最大反向关态电压:5.5V
钳位电压:最大13V(在Ipp=3.75A时)
响应时间:小于1ns
电容(典型值):0.3 pF(在1 MHz)
封装:DFN1006-6(1.0 x 0.6 mm2)
工作温度范围:-40°C至+150°C
PESD1USB3B/CX 具备多项先进特性,适用于现代高速USB接口的ESD保护需求。首先,其极低的结电容(典型值0.3 pF)确保了在USB 3.0高速传输(最高5 Gbps)过程中不会造成信号失真或衰减,这对于维持数据完整性至关重要。
其次,该器件具有非常快速的响应时间(小于1纳秒),能够在静电放电事件发生的瞬间迅速将电流引导至地,从而保护后端IC免受损坏。这种快速响应能力对于应对IEC 61000-4-2标准中定义的四级ESD冲击(最高可达±30kV空气放电和±30kV接触放电)尤为重要。
此外,PESD1USB3B/CX 内部集成了两个独立的双向保护通道,专为USB 3.0的TX和RX差分信号线设计,能够同时保护两个高速信号对,节省PCB空间并简化电路设计。
该器件采用无铅DFN1006-6封装,符合RoHS和WEEE环保标准,适合用于自动化SMT贴片工艺,适用于大批量生产。其小型化设计也使其成为智能手机、平板电脑、笔记本电脑、USB扩展坞等便携设备的理想选择。
在电气性能方面,PESD1USB3B/CX 的最大反向工作电压为5.5V,能够满足USB 3.0接口的电压要求。在ESD事件中,其钳位电压控制在13V以内(Ipp=3.75A条件下),有效防止后端电路受到过高电压冲击,同时保持较低的功耗和热损耗。
综上所述,PESD1USB3B/CX 是一款高性能、小型化、高可靠性的ESD保护解决方案,适用于各种高速USB接口应用,能够显著提升设备的电磁兼容性和系统稳定性。
PESD1USB3B/CX 主要应用于USB 3.0接口的静电保护电路中,常见于以下设备和系统:智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式机主板、USB扩展坞、外置硬盘盒、高清摄像头、高速数据传输线缆、工业控制设备和消费类电子产品等。其低电容和高速特性使其非常适合用于保护高速数据通信线路,如USB 3.0、HDMI、DisplayPort等接口。该器件特别适用于需要通过IEC 61000-4-2 ESD抗扰度测试的场合,可有效防止因静电放电导致的设备故障或性能下降。
PESD1USB3BA/CX, PESD1USB3T/CX, TPD4S014, TPD2S016, ESD111B-BF3R