LESD5Z12.0T1G 是一款由ON Semiconductor(安森美半导体)制造的低电容双向静电放电(ESD)保护二极管,专为高速数据线路设计,提供针对静电放电和其他瞬态电压事件的高效保护。该器件采用SOD-523封装,适用于USB、HDMI、以太网、DisplayPort等高速接口的ESD保护应用。
工作电压: 12V
钳位电压(Vc): 最大20.3V @ Ipp=1.73A
峰值脉冲电流(Ipp): 1.73A
反向击穿电压(Vbr): 最小13.3V,最大14.8V
漏电流(Ir): 最大0.1μA @ VRWM=12V
电容(Cj): 典型值1.5pF @ VR=0V, f=1MHz
封装: SOD-523
双向保护: 是
工作温度范围: -55°C ~ +150°C
LESD5Z12.0T1G具有极低的结电容,确保高速信号传输的完整性,适合USB 3.0、HDMI 1.3/1.4和DisplayPort等高频应用。
其双向保护结构可同时保护正负极性的ESD事件,钳位电压低,响应时间快,能在极短时间内将高能ESD脉冲泄放到地,从而保护后端电路。
该器件采用无铅封装,符合RoHS和IEC 61000-4-2 Level 4标准,具备高达±30kV的接触放电保护能力。
此外,LESD5Z12.0T1G具有极低的漏电流,在正常工作电压下对电路影响极小,确保系统稳定运行。
由于其SOD-523的小型封装,该器件非常适合空间受限的便携式电子产品设计。
LESD5Z12.0T1G广泛应用于各种需要ESD保护的高速数据接口中,包括但不限于:USB 2.0/3.0接口、HDMI接口、DisplayPort接口、以太网接口、SD卡插槽、相机模块、音频/视频输入输出端口等。
在智能手机、平板电脑、笔记本电脑、数码相机、机顶盒、显示器等消费类电子产品中常见其身影。
该器件也常用于工业控制设备、通信设备、汽车电子中的高速通信接口保护,确保设备在恶劣环境下的可靠运行。
LESD5Z12.0T1G的替代型号包括LESD5Z12.0DT1G(双通道版本)、PESD5Z12U1U、EMLD5Z12.0T1G等。这些器件在参数和封装上略有差异,可根据具体应用需求选择合适的替代型号。