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K9659D 发布时间 时间:2025/12/27 13:16:12 查看 阅读:13

K9659D是一款由三星(Samsung)生产的NAND型闪存芯片,广泛应用于嵌入式存储、固态硬盘(SSD)、移动设备及消费类电子产品中。该芯片属于三星高端V-NAND技术系列,采用多层堆叠架构以实现高密度存储,具备较高的读写速度和耐久性。K9659D通常用于需要大容量、高性能非易失性存储的场景,支持多种接口协议并兼容主流控制器平台。其设计注重功耗控制,适合便携式设备在保证性能的同时延长电池寿命。该器件封装紧凑,便于集成于空间受限的应用环境中,并通过了工业级温度范围验证,可在恶劣环境下稳定运行。

参数

型号:K9659D
  类型:NAND Flash
  容量:512Gb(64GB)
  工艺技术:V-NAND 3D堆叠
  电压:VCC=2.7V~3.6V,VCCQ=1.7V~1.95V
  工作温度:-40°C 至 +85°C
  封装形式:TSOP-48 或 BGA 封装(具体视版本而定)
  接口类型:ONFI 3.2 或 Toggle Mode 3.0
  编程时间:典型值约500μs/页
  擦除时间:典型值约3ms/块
  数据保持时间:10年(在额定条件下)
  耐久性:约1000 P/E cycles(Program/Erase Cycles)

特性

K9659D采用了三星先进的3D V-NAND技术,通过垂直堆叠多个存储层来突破传统平面NAND的缩放限制,从而显著提升存储密度与性能表现。这种结构不仅提高了单位面积内的存储容量,还有效降低了单元间干扰,增强了数据可靠性。其核心架构基于电荷撷取式陷阱门(Charge Trap Flash, CTF)技术,相较于传统的浮栅结构,具有更低的漏电流和更高的编程效率。
  该芯片支持高速异步接口协议,如ONFI 3.2或Toggle Mode 3.0,能够实现高达800MB/s以上的有效数据传输速率,满足高性能存储系统对低延迟和高吞吐量的需求。内部集成了强大的错误校正码(ECC)机制,通常支持每512字节16位以上的纠错能力,可自动检测并修正多位错误,确保长期数据完整性。
  K9659D内置智能管理功能,包括动态磨损均衡(Wear Leveling)、坏块管理和垃圾回收(Garbage Collection),这些特性由片上控制器或外部主控协同完成,极大提升了使用寿命和稳定性。此外,它具备低功耗运行模式,在待机或轻负载状态下自动进入节能状态,适用于移动终端等对能耗敏感的应用。
  为了适应复杂的工作环境,K9659D通过严格的老化测试和可靠性验证,支持全工业级温度范围操作,即使在极端高低温条件下也能维持正常读写功能。同时,其封装设计符合JEDEC标准,具备良好的抗振性和热稳定性,适合应用于车载电子、工业控制、监控设备等领域。

应用

K9659D NAND闪存芯片被广泛应用于多种高要求的电子系统中。在消费电子领域,常用于高端智能手机、平板电脑和便携式固态存储设备中作为主存储介质,提供大容量和快速响应的数据存取能力。由于其高带宽特性,也适用于嵌入式多媒体卡(eMMC)和通用闪存存储(UFS)模块的设计与制造。
  在计算机与数据中心方面,K9659D可用于构建入门级至中端固态硬盘(SSD),尤其适用于M.2或mSATA形态的小型化存储解决方案。结合主控芯片和固件优化,可实现高效的随机读写性能,提升操作系统启动速度和应用程序加载效率。
  工业自动化与物联网设备也是其重要应用方向之一。例如,在工业级SSD、POS终端、网络路由器和视频监控录像机(DVR/NVR)中,K9659D凭借其出色的耐用性和数据保持能力,能够在长时间连续写入和频繁断电重启的严苛条件下稳定运行。
  此外,该芯片还可用于汽车信息娱乐系统(Infotainment)和高级驾驶辅助系统(ADAS)中的本地存储单元,满足车规级环境下的可靠性需求。医疗设备、测试仪器等专业设备中也可见其身影,用以记录关键数据并确保长期可读性。

替代型号

MT29F512G08CBECBH-10:B
  TC58CVG1S0HRAIJ
  SAMSUNG K9HBG08U0D

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