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FK-3000B 发布时间 时间:2025/12/28 14:10:36 查看 阅读:19

FK-3000B 是一种工业级的电子元器件测试设备,主要用于芯片级和模块级的功能测试、性能评估和可靠性分析。该设备广泛应用于半导体制造、电子产品研发、质量控制和故障分析领域。FK-3000B 具备高精度测量能力、多通道数据采集系统以及灵活的软件控制平台,能够满足多种类型的电子元器件测试需求,包括数字IC、模拟IC、功率器件、传感器等。设备采用模块化设计,便于扩展和维护,同时支持自动化测试流程,提高测试效率和准确性。

参数

测试通道数:最多支持256个独立通道
  电压测量范围:±100V
  电流测量范围:±10A
  分辨率:电压0.1mV,电流0.1μA
  测试频率范围:DC至100MHz
  输入阻抗:10MΩ
  输出阻抗:50Ω
  通信接口:USB 3.0、LAN、GPIB
  工作温度范围:0℃至50℃
  存储温度范围:-20℃至70℃
  电源输入:AC 100V~240V,50/60Hz

特性

FK-3000B 采用先进的数字信号处理技术和高精度ADC/DAC模块,确保测试数据的准确性和重复性。其多通道并行测试能力可以显著提升测试效率,适用于大批量生产的在线测试场景。设备支持多种测试模式,包括直流测试、交流测试、时序分析和功能测试等,能够满足不同应用场景的需求。
  此外,FK-3000B 配备了直观的图形化用户界面(GUI),用户可以通过软件平台进行测试程序的编写、调试和执行。平台支持脚本语言编程(如Python、C#等),便于用户自定义测试流程。系统内置丰富的测试模板和参考案例,降低用户的学习门槛,提高开发效率。
  在安全性和稳定性方面,FK-3000B 配备了过压、过流保护机制,确保被测器件和设备本身的安全。设备支持远程控制和数据导出功能,便于集成到自动化测试系统或数据分析平台中。

应用

FK-3000B 主要应用于电子元器件的研发、生产测试、失效分析和质量控制。在半导体制造中,该设备可用于晶圆测试、封装后测试以及成品IC的功能验证。在电子产品研发阶段,工程师可以利用FK-3000B进行元器件参数测量、性能评估和电路调试。在工业自动化和汽车电子领域,该设备也可用于模块级的功能测试和长期可靠性评估。此外,FK-3000B 还广泛应用于高校科研、实验室测试和第三方检测机构中,为电子元器件的研究和应用提供可靠的技术支持。

替代型号

Keysight 34972A,NI PXIe-4143,Tektronix TSM测试系统

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