时间:2025/12/28 10:01:58
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FH6115A28M3是一款由富士通(Fujitsu)公司生产的高性能、低功耗的铁电随机存取存储器(Ferroelectric Random Access Memory,简称FRAM)。该器件结合了传统RAM的高速读写能力和非易失性存储器的数据保持能力,能够在断电情况下长期保存数据,同时具备极高的读写耐久性。FH6115A28M3采用先进的铁电工艺制造,提供了可靠的存储解决方案,特别适用于需要频繁写入操作和高数据完整性的应用场景。
FH6115A28M3的存储容量为4兆位(512K × 8位),支持标准的串行外设接口(SPI),最高工作时钟频率可达40MHz,能够实现快速的数据传输。该芯片工作电压范围较宽,通常在2.7V至3.6V之间,适用于多种工业、汽车和消费类电子设备。其封装形式为小型8引脚SOIC或TSSOP,适合空间受限的应用场景。此外,该器件具有出色的抗辐射和抗干扰能力,能够在恶劣环境下稳定运行,确保数据的可靠性和完整性。
型号:FH6115A28M3
制造商:Fujitsu
存储类型:非易失性FRAM
存储容量:4 Mbit (512K × 8)
接口类型:SPI(四线制)
最大时钟频率:40 MHz
工作电压:2.7V ~ 3.6V
工作温度范围:-40°C ~ +85°C
封装类型:8-SOIC
写入耐久性:10^14 次/字节
数据保持时间:10年(典型值)
写入时间:150 ns(典型值)
待机电流:10 μA(最大值)
工作电流:5 mA(典型值,f=20MHz)
FH6115A28M3的核心技术基于铁电电容的物理特性,与传统的EEPROM或Flash存储器不同,它不需要长时间的写入周期或高电压编程操作。每个存储单元由一个铁电电容和一个晶体管组成,利用铁电材料的极化状态来表示逻辑“0”或“1”。这种机制使得FH6115A28M3在写入操作中几乎无延迟,写入速度接近SRAM水平,且无需等待写入完成即可进行下一次操作,极大地提高了系统效率。此外,由于没有电子隧穿过程,FRAM的写入寿命远超传统非易失性存储器,可达到10^14次写入循环,这意味着在大多数应用中几乎不会因写入次数限制而导致器件失效。
该器件还具备卓越的数据保持能力,在-40°C至+85°C的工作温度范围内,数据可保持长达10年以上,即使在极端环境条件下也能确保信息不丢失。FH6115A28M3支持全地址范围内的字节级写入,无需块擦除或页编程操作,简化了软件设计并减少了系统开销。其低功耗特性使其非常适合电池供电或能量采集系统,在待机模式下电流消耗仅为10μA,显著延长了设备的续航时间。SPI接口兼容性强,支持模式0和模式3,便于与各种微控制器集成。此外,该芯片内置写保护功能,可通过软件或硬件方式防止意外写入,增强了数据安全性。
FH6115A28M3广泛应用于对数据写入频率高、可靠性要求严苛的工业控制和自动化系统中,例如PLC(可编程逻辑控制器)、传感器节点和数据记录仪等设备,用于实时保存配置参数、运行日志和故障代码。在智能仪表领域,如电表、水表和气表中,该芯片可用于存储累计用量、校准数据和用户设置,确保断电后数据不丢失。在医疗电子设备中,如便携式监护仪和血糖仪,FH6115A28M3可用于安全存储患者测量数据和设备校准信息,满足医疗数据长期可靠存储的需求。汽车电子系统也大量采用此类FRAM器件,用于存储ECU(电子控制单元)的调试信息、里程记录和故障码,尤其适合启停频繁、电源不稳定的车载环境。此外,在POS终端、打印机、工业条码扫描器等商业设备中,FH6115A28M3可用于快速记录交易数据、打印任务和用户操作历史,提升系统响应速度和用户体验。由于其抗辐射和高可靠性,该器件也可用于航空航天和军事电子系统中的关键数据存储场景。
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