时间：2025/5/8 19:36:24
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EVK-VERA-P174-00A是一款专为验证和测试特定系列芯片而设计的评估套件。该评估板主要用于帮助工程师快速上手并测试目标芯片的功能特性，包括但不限于输入输出性能、功耗管理以及信号完整性等关键指标。它通常包含完整的硬件电路设计、接口连接器以及调试工具支持，适用于产品开发阶段的原型设计与功能验证。
此评估板适配特定型号的主控芯片或模块，具体型号需结合实际使用场景查阅相关文档。
工作电压：3.3V~5V
接口类型：USB Type-C, UART, JTAG
支持芯片系列：VERA系列主控芯片
尺寸：100mm x 70mm
工作温度范围：-20°C ~ +85°C
EVK-VERA-P174-00A评估板的主要特性包括高度集成的外围电路设计，能够显著简化目标芯片的测试流程。其板载丰富的接口资源，如UART串口、JTAG调试接口及USB通信端口，便于与PC或其他设备进行数据交互。
此外，该评估板还提供了灵活的电源管理方案，支持多种输入电压，并内置稳压电路以确保稳定运行。用户可通过配套软件实现对芯片寄存器的配置、固件烧录以及实时监控等功能。
在信号完整性方面，评估板采用多层PCB设计，优化了高速信号走线布局，有效降低了电磁干扰（EMI）的影响。同时，它还预留了扩展区域，方便用户根据需求添加额外的外设或传感器模块。
EVK-VERA-P174-00A广泛应用于嵌入式系统开发、物联网（IoT）设备测试以及工业自动化控制领域。对于需要高性能处理能力的应用场景，例如智能网关、边缘计算节点或机器人控制系统，这款评估板可作为理想的开发平台。
此外，在教育和科研领域，它也常被用作教学演示工具，帮助学生或研究人员深入了解现代微控制器架构及其应用技术。
EVK-VERA-P175-00A
