C14455-3050GA 是一款由日本滨松光子(Hamamatsu Photonics)公司制造的硅光电倍增器(SiPM),用于高灵敏度的光检测应用。这种器件结合了高增益和低噪声特性,适用于弱光信号的检测。C14455-3050GA 特别设计用于需要高时间分辨率和良好光子探测效率的场合,如正电子发射断层扫描(PET)、辐射检测、光学相干断层扫描(OCT)等高端科研和工业设备。
类型:硅光电倍增器(SiPM)
有效探测面积:3 mm x 3 mm
像素数量:1024像素
工作电压:约28.5 V至31.5 V
暗计数率:典型值为100 kHz至1 MHz(取决于过压值)
光子探测效率(PDE):最大约50% @ 450 nm
时间分辨率(FWHM):约200 ps
工作温度范围:-40°C至+85°C
封装形式:陶瓷表面贴装封装
C14455-3050GA 是一款高灵敏度的硅光电倍增器,具有低暗电流和高时间分辨率的特点,适用于极端弱光探测环境。其多像素结构确保了在保持高增益的同时减少噪声影响,使得探测信号更加清晰可靠。此外,该器件具备优异的抗磁干扰能力,适合用于高磁场环境下的检测任务,如医学成像中的PET探测器。该SiPM还具有宽动态范围,支持从单光子计数到连续光强测量的多种工作模式。其表面贴装封装形式也便于集成到现代高密度电路板中。
在温度稳定性方面,C14455-3050GA 可在较宽温度范围内保持性能稳定,适合在各种工业和科研环境中使用。该器件还具备快速响应能力,能够实现纳秒级的时间响应,适用于高速光信号采集和处理系统。同时,其高光子探测效率(PDE)在蓝绿光波段尤为突出,使其在荧光检测、光谱分析等应用中表现出色。
为了进一步提升性能,C14455-3050GA 还支持外部温度反馈控制,通过调节偏置电压来补偿温度变化带来的增益漂移,从而保证测量的一致性和准确性。这种特性在长时间运行和高精度要求的应用中尤为重要。
C14455-3050GA 广泛应用于需要高灵敏度、快速响应和良好时间分辨率的光学检测系统。常见应用包括正电子发射断层扫描(PET)、单光子发射计算机断层扫描(SPECT)、辐射探测器、光学相干断层扫描(OCT)、激光雷达(LiDAR)、高能物理实验探测器、生物发光检测和荧光光谱分析等。此外,它也适用于高端工业检测设备和科研级光子计数系统。
C14455-3050GA 的替代型号包括 SensL 的 MicroFC-60035-TS 和 Broadcom 的 AFBR-S4N44C013。这些型号在性能参数和应用领域上具有一定的相似性,可根据具体需求进行选择。