ATS645LSH-I1 是一款由 Allegro MicroSystems 公司生产的霍尔效应锁存器集成电路。该芯片设计用于无接触检测应用,例如用于检测电机转子的位置、速度测量或无刷直流电机的换向控制。ATS645LSH-I1 采用双极性霍尔传感器技术,能够在高频率下稳定工作,适用于多种工业、汽车和消费类应用。该器件采用 SOT23-W 封装,便于表面贴装安装,并具有良好的热性能和机械稳定性。
工作电压:4.5 V 至 24 V
工作温度范围:-40°C 至 +150°C
输出类型:开漏输出
响应频率:高达 20 kHz
磁灵敏度(Bop):典型值 45 G(高灵敏度版本)
磁释放点(Brp):典型值 -45 G
工作模式:锁存型霍尔效应传感器
封装类型:SOT23-W
ATS645LSH-I1 是一款高性能的霍尔效应锁存器集成电路,专为高精度、高可靠性的磁检测应用而设计。该芯片的核心是一个双极性霍尔效应传感器,能够检测磁场的极性变化,并根据磁场强度的变化输出相应的数字信号。其锁存特性意味着,只有当磁场从正向切换到负向或反之亦然时,输出才会改变状态,这有助于减少误触发并提高信号的稳定性。
该器件具有宽广的工作电压范围(4.5V 至 24V),适用于多种电源环境,包括电池供电系统和工业控制系统。此外,其工作温度范围从 -40°C 到 +150°C,确保其在极端温度条件下仍能保持稳定运行,适用于汽车和工业环境。
ATS645LSH-I1 的输出为开漏结构,允许用户根据需要连接上拉电阻至不同的电压源,从而实现电平转换功能。这种设计增强了其与其他电路的兼容性,适用于多种接口方案。该芯片的响应频率高达 20kHz,适合用于高速旋转检测或高频磁场变化的应用场景。
此外,该器件采用 SOT23-W 封装,体积小巧,便于在空间受限的设计中使用。其封装形式支持表面贴装工艺,提高了制造效率和焊接可靠性。整体来看,ATS645LSH-I1 是一款集高性能、高稳定性和灵活性于一体的霍尔效应锁存器芯片,适用于广泛的位置和速度检测应用。
ATS645LSH-I1 霍尔效应锁存器集成电路广泛应用于需要检测磁场变化的场景。常见的应用包括无刷直流电机的转子位置检测,用于控制电机换向;在汽车行业中,可用于检测车轮转速或节气门位置;在工业自动化中,可用于检测机械部件的运动状态或旋转方向;此外,它还可用于编码器、接近开关、速度传感器以及各种家用电器中的无接触检测系统。
A3415-EK-T, AH182-WAH-T, AH180-WAH-T