时间:2025/12/26 3:24:59
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AR03DTDX1001是ON Semiconductor(安森美)推出的一款高性能、低功耗的CMOS图像传感器,专为工业成像、机器视觉和嵌入式视觉应用设计。该传感器采用了先进的3.0微米像素技术,具备出色的灵敏度和动态范围,能够在各种光照条件下提供清晰、高质量的图像输出。AR03DTDX1001采用1/3英寸光学格式,有效像素约为300万(2048 x 1536),支持逐行扫描模式,适用于需要高分辨率和快速帧率的应用场景。该器件支持多种输出接口,包括并行和串行(如SLVS-EC)接口,便于系统集成,并可通过I2C接口进行寄存器配置和控制。其封装形式为紧凑型芯片级封装(CSP),适合空间受限的应用环境。此外,AR03DTDX1001支持温度监控和内置自检功能,提升了系统的可靠性与稳定性。该传感器广泛应用于智能交通系统(ITS)、安防监控、无人机摄像、工业自动化检测等领域。
品牌:ON Semiconductor
类型:CMOS图像传感器
像素尺寸:3.0 μm
有效像素:2048 (H) x 1536 (V)
光学格式:1/3 英寸
帧率:最高可达60 fps(全分辨率)
输出接口:SLVS-EC, 并行输出
供电电压:核心电压1.2V,I/O电压1.8V/3.3V
工作温度:-30°C 至 +85°C
封装类型:Chip Scale Package (CSP)
AR03DTDX1001具备卓越的图像质量和低光性能,得益于其先进的3.0微米DR-Pix技术,能够在不同光照条件下实现高动态范围成像。该传感器支持全局快门工作模式,有效消除运动物体拍摄时产生的果冻效应,特别适用于高速移动场景下的精确捕捉。其高量子效率设计显著提升了在可见光及近红外波段的响应能力,增强了夜间或弱光环境下的成像清晰度。
该器件集成了多项先进功能,包括可编程增益控制(PGA)、黑电平校正(BLC)、镜头阴影校正(LSC)以及坏点校正等,确保输出图像的一致性和准确性。同时,支持多区域曝光控制(Multi-Region HDR),允许对画面中不同区域独立设置曝光时间,从而在复杂光照环境下保留更多细节信息。
AR03DTDX1001还具备强大的抗干扰能力和EMI抑制设计,适合在电磁环境复杂的工业现场稳定运行。其低功耗架构优化了待机和活动状态下的能耗表现,延长了电池供电设备的使用时间。此外,通过I2C接口可灵活配置多种工作模式,包括窗口裁剪、镜像、翻转、帧率调节等功能,满足多样化应用需求。
该传感器支持温度传感器集成,可用于实时监测芯片温升情况,并结合自动增益调整机制优化图像质量。其高可靠性的CSP封装不仅减小了整体体积,还提高了热传导效率和机械稳定性,适应严苛的工作环境。整体而言,AR03DTDX1001是一款集高性能、灵活性与可靠性于一体的工业级图像传感器解决方案。
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AR0330CS