ADG526AKPZ 时间：2025/12/25 19:57:08 阅读：18

ADG526AKPZ是一款由Analog Devices（亚德诺半导体）公司生产的CMOS模拟多路复用器。该器件属于其高性能开关和多路复用器产品线，广泛应用于需要高精度信号切换的测试与测量、工业控制、数据采集系统以及医疗设备等领域。ADG526AKPZ采用24引脚TSSOP封装，内部集成了一个8通道单刀双掷（SPDT）开关结构，能够根据数字控制输入选择两个独立信号路径之一进行导通。其设计优化了导通电阻、漏电流和开关速度等关键参数，在宽电源电压范围内保持稳定性能。该芯片支持±15V双电源或+12V单电源供电模式，适用于交流和直流信号的处理。此外，它具备良好的隔离性和低电荷注入特性，确保在精密模拟应用中不会对信号完整性造成显著影响。ADG526AKPZ还具有先断后合（Break-Before-Make）的开关机制，避免了在切换过程中产生瞬时短路的风险，提高了系统的可靠性。该器件的工作温度范围通常为-40°C至+85°C，符合工业级应用要求，并且通过了多项国际安全标准认证，适合在严苛环境中长期运行。

参数

型号：ADG526AKPZ
　　制造商：Analog Devices
　　封装类型：24-TSSOP
　　通道数：8
　　开关配置：SPDT（单刀双掷）
　　供电电压：±15V 或 +12V 单电源
　　逻辑兼容性：TTL/CMOS 兼容
　　导通电阻（RON）：典型值 125 Ω
　　导通电阻平坦度（RFLAT）：典型值 5 Ω
　　关断状态漏电流：最大 ±1 nA（@ 25°C）
　　带宽：典型值 300 MHz
　　开关时间（开启）：典型值 150 ns
　　开关时间（关闭）：典型值 100 ns
　　电荷注入：典型值 5 pC
　　工作温度范围：-40°C 至 +85°C
　　存储温度范围：-65°C 至 +150°C
　　ESD 防护：HBM 模型下大于 2000 V

特性

ADG526AKPZ具备优异的动态和静态电气特性，能够在多种复杂环境下实现可靠的模拟信号路由功能。其核心优势之一是低且稳定的导通电阻，典型值仅为125Ω，同时在整个输入电压范围内的变化非常小（RFLAT为5Ω），从而有效减少了信号失真，尤其适合处理微弱模拟信号的应用场景。由于采用了先进的LC2MOS工艺制造，该器件在关断状态下表现出极低的漏电流，最大不超过±1nA（在25°C时），这使得它在多通道系统中能提供出色的通道间隔离性能，防止串扰影响测量精度。
　　另一个重要特性是其宽带宽表现，典型值可达300MHz，允许高频模拟信号无损通过，满足高速数据采集系统的需求。开关响应速度快，开启时间约150ns，关闭时间约为100ns，支持快速通道切换操作，提升系统整体效率。器件内置先断后合（Break-Before-Make）逻辑控制机制，确保在切换不同信号源时不会出现短暂并联通路，避免可能引发的电源冲突或负载损坏问题，增强了系统安全性。
　　ADG526AKPZ支持TTL/CMOS电平兼容的数字控制接口，可直接连接微控制器、FPGA或其他逻辑电路，无需额外电平转换电路，简化了系统设计。它可在±15V双电源或+12V单电源条件下正常工作，适应性强，可用于正负对称信号处理或单极性系统。此外，该芯片具有低电荷注入特性（典型值5pC），在采样保持电路或开关电容结构中可显著降低误差电压，提高精度。综合这些特点，ADG526AKPZ成为高精度、高可靠性模拟开关应用的理想选择。

应用

ADG526AKPZ因其高精度、低漏电和良好带宽特性，被广泛用于各种对信号完整性要求较高的电子系统中。在自动测试设备（ATE）中，它常用于构建多通道信号路由网络，实现被测器件与激励源或测量仪器之间的灵活连接，支持高效批量测试流程。在数据采集系统中，该芯片可用于多路传感器信号的选择与切换，例如压力、温度或应变片输出信号的轮询采集，配合ADC前端使用，确保每个通道的数据准确性。
　　工业过程控制系统也大量采用ADG526AKPZ进行现场仪表信号的集中管理，如PLC模块中的模拟量输入卡件，利用其SPDT结构实现主备信号源切换或冗余设计，提升系统可用性。在医疗电子设备中，如病人监护仪或多参数分析仪，该器件用于选择不同的生物电信号（如ECG、EEG通道）进入后续放大和处理电路，其低噪声和低电荷注入特性有助于维持生理信号的真实形态。
　　此外，ADG526AKPZ还可应用于通信系统中的射频或中频信号路径选择、音频设备中的音源切换模块，以及便携式仪器中的低功耗模拟开关阵列。得益于其宽温工作范围和高ESD防护能力，该器件也能胜任恶劣环境下的长期运行任务，包括户外监测装置和车载电子系统。总之，任何需要精确控制模拟信号流向的场合，ADG526AKPZ都能提供稳定可靠的解决方案。