时间：2025/12/25 19:33:42
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ADG412BRUZ是一款由Analog Devices Inc.（ADI）生产的CMOS模拟多路复用器芯片。该器件属于高性能、低功耗的精密模拟开关系列，广泛应用于需要高精度信号切换和处理的电子系统中。ADG412BRUZ采用超小型TSSOP-24封装，适用于空间受限的应用场景。该芯片内部集成了四个独立的单刀双掷（SPDT）开关，能够实现对多路模拟或数字信号的灵活路由与控制。其设计基于先进的亚微米CMOS工艺，具备极低的导通电阻、快速的开关速度以及出色的温度稳定性，在工业自动化、医疗设备、测试测量仪器和通信系统等领域具有重要应用价值。ADG412BRUZ支持全电源范围内的轨到轨信号传输，确保输入信号在电源电压范围内都能被准确无损地通过，特别适合处理宽动态范围的模拟信号。此外，该器件还具备低漏电流特性，有效减少信号串扰和功耗，提升系统的整体性能与可靠性。
型号：ADG412BRUZ
制造商：Analog Devices
封装类型：TSSOP-24
通道数量：4 SPDT
供电电压范围：±4.5V 至 ±20V 或 9V 至 40V 单电源
导通电阻典型值：110 Ω
导通电阻匹配度：5 Ω
关断泄漏电流：±1 nA（最大）
导通泄漏电流：±1 nA（最大）
带宽：-3dB 带宽 > 200 MHz
开关时间（ton/toff）：< 100 ns
电源电流：≤ 1 μA（静态）
工作温度范围：-40°C 至 +125°C
逻辑电平兼容性：TTL/CMOS 兼容
ADG412BRUZ的核心特性之一是其卓越的导通电阻性能，典型值仅为110Ω，并且在整个工作温度和电源电压范围内保持高度稳定。这种低而稳定的导通电阻保证了信号在传输过程中的最小衰减和失真，尤其适用于高阻抗源信号的采集系统。该器件的导通电阻随温度的变化非常小，具有良好的温度线性度，避免了因温度漂移导致的测量误差，提升了系统在恶劣环境下的可靠性。
另一个关键特性是其极低的泄漏电流。在关断状态下，漏电流最大为±1nA，而在导通状态下的漏电流同样极低。这一特性对于高精度直流信号处理至关重要，可显著降低信号路径间的串扰和偏置误差，特别适用于多路复用的精密数据采集系统（DAQ），如医疗心电图机、工业传感器接口等。
ADG412BRUZ支持宽范围的电源供电，既可用于双电源（±4.5V至±20V）配置，也可用于单电源（9V至40V）操作，使其能够适应多种不同的系统架构需求。无论是在高压模拟前端还是低压逻辑控制电路中，它都能提供一致的性能表现。
该器件具备快速的开关响应能力，开启和关闭时间均小于100ns，确保高频信号或高速数据采集时的实时性和准确性。同时，其高达200MHz以上的-3dB带宽使得它可以处理宽带模拟信号，适用于视频信号切换、射频测试设备等应用场景。
ADG412BRUZ采用CMOS工艺制造，静态电源电流低于1μA，表现出优异的低功耗特性，非常适合便携式设备和电池供电系统使用。此外，其控制逻辑输入端兼容TTL和CMOS电平，简化了与微控制器、FPGA或其他数字逻辑器件的接口设计，增强了系统的集成便利性。
ADG412BRUZ因其高精度、低功耗和宽电源适应能力，被广泛应用于多个高要求的技术领域。在工业自动化系统中，常用于PLC模块中的多路传感器信号选择，实现温度、压力、流量等多种物理量的轮询采集。其低导通电阻和低温漂特性确保了工业现场复杂环境下数据采集的长期稳定性与准确性。
在医疗电子设备中，例如病人监护仪、便携式诊断设备和生物电信号放大系统中，ADG412BRUZ用于多导联心电（ECG）、脑电（EEG）信号的选择与切换。由于其极低的漏电流和高输入阻抗特性，能够有效防止微弱生理信号的损失和干扰，保障诊断结果的可靠性。
在自动测试设备（ATE）和精密测量仪器中，该芯片作为信号路由核心组件，用于在不同待测器件之间切换激励源或测量通道，提高测试效率并减少硬件冗余。其快速开关能力和宽带宽支持高频信号测试，适用于半导体参数分析仪、LCR表等高端仪器仪表。
通信系统中，ADG412BRUZ可用于射频前端的辅助模拟信号路径切换，如本振信号选择、滤波器组切换等非主射频路径控制，凭借其高隔离度和低串扰特性，有助于维持系统信噪比。
此外，在数据采集系统（DAQ）和模数转换器（ADC）前端保护电路中，ADG412BRUZ也发挥着重要作用，能够在过压情况下迅速切断敏感元件连接，提升系统鲁棒性。
ADG412BNZ-REEL7
ADG412BRUZ-REEL
