分辨率：12位
　　积分非线性（INL）：±1 LSB（典型值）
　　微分非线性（DNL）：±1 LSB（典型值）
　　建立时间：0.8 μs（满量程变化）
　　供电电压：+4.5V 至 +5.5V（单电源）
　　参考输入电压范围：0V 至 VREF（可选外部参考）
　　输出类型：电压输出
　　接口类型：并行输入（兼容 TTL/CMOS）
　　工作温度范围：-40°C 至 +85°C
　　封装形式：20引脚 DIP 或 SOIC（取决于具体版本）
　　功耗：典型值 35 mW
　　更新速率：可达 1 MSPS
　　输出放大器带宽：10 MHz（典型值）
　　失调误差：±2 mV（最大值）
　　增益误差：±0.5% FSR（满量程范围）

AD130IV具备优异的动态与静态性能，能够实现高精度的模拟信号生成。其12位分辨率确保了输出信号的精细控制，适用于对精度敏感的应用场景。器件内部集成了一个高带宽的输出缓冲放大器，可以直接驱动容性负载而无需额外的外部补偿电路，简化了系统设计。该DAC具有快速的建立时间（仅0.8微秒），使其能够在高速更新的应用中保持良好的响应能力，同时维持较低的功耗水平。其CMOS工艺不仅降低了整体功耗，还提升了器件的抗干扰能力，增强了在复杂电磁环境下的稳定性。
　　AD130IV支持灵活的参考电压输入，允许用户通过外部精密参考源来优化系统的绝对精度。这种设计使得它可以在单极性（如0V到+5V）或双极性（如±5V）输出模式下工作，满足多样化的系统架构需求。并行接口设计提供了与微处理器、FPGA或DSP的无缝连接能力，数据写入选通由WR和CS信号控制，确保时序可靠性。此外，该器件内置上电复位功能，保证DAC输出在上电过程中处于已知状态（通常为零刻度或中间刻度），避免误动作对下游电路造成影响。
　　在温度稳定性方面，AD130IV表现出色，关键参数如增益误差、失调误差和非线性在整个工业温度范围内变化极小，减少了系统校准频率。其高抗噪能力和良好的电源抑制比（PSRR）进一步提升了在噪声环境中工作的可靠性。封装采用标准20引脚DIP或SOIC形式，便于手工焊接与自动化生产，同时也利于散热管理。综合来看，AD130IV是一款兼顾性能、稳定性和易用性的12位DAC，适用于需要长期稳定运行且对精度有较高要求的工业控制系统和测量仪器。

AD130IV广泛应用于多种需要精确模拟信号生成的技术领域。在工业自动化中，它常用于PLC（可编程逻辑控制器）中的模拟量输出模块，实现对执行机构如阀门、电机驱动器的精准控制。在自动测试设备（ATE）中，该DAC可用于生成激励信号，配合ADC完成器件参数的闭环测试。在数据采集系统中，AD130IV可用于重构经过数字处理后的信号，实现波形再生或反馈控制。
　　在通信系统中，AD130IV可用于中频信号调制、偏置调节或通道均衡控制，尤其是在基站功率放大器的预失真补偿电路中发挥重要作用。此外，在医疗设备如病人监护仪或成像系统中，该器件可用于生成参考电压或校准信号，确保传感器信号链的准确性。
　　科研与测量仪器领域也是其重要应用场景，例如在函数发生器、任意波形发生器或数字示波器中作为核心D/A转换单元。在可编程电源和电子负载设备中，AD130IV可用于设定电压或电流基准，实现远程编程控制。此外，音频测试设备、雷达系统前端控制、激光驱动器偏置调节等高端应用也能受益于其高线性度和快速响应特性。由于其工业级温度范围和高可靠性，AD130IV也适用于恶劣环境下的嵌入式控制系统。

AD130JN
　　AD130KN
　　AD130BN