A1155LUBTN-F-T是一款由Allegro MicroSystems公司设计的霍尔效应双极开关集成电路(IC),专门用于无接触式磁性传感应用。该器件结合了先进的霍尔效应技术与CMOS工艺,提供高灵敏度和低功耗特性,适用于各种工业自动化、消费电子和汽车电子系统中的位置检测、转速测量和磁性开关控制。该IC采用SOT-23封装形式,便于表面贴装,适用于空间受限的设计。
类型:霍尔效应开关
输出类型:数字输出
供电电压范围:2.7V 至 5.5V
静态电流:典型值为3.5mA
工作温度范围:-40°C 至 +85°C
磁感应强度阈值(Bop):典型值为35 Gauss
释放磁感应强度(Brp):典型值为25 Gauss
响应时间:典型值为13μs
封装类型:SOT-23,3引脚
A1155LUBTN-F-T具备高灵敏度的霍尔效应传感元件,能够在低磁场强度下稳定工作,确保在复杂电磁环境中的可靠性。该器件采用CMOS技术,显著降低了功耗,适用于电池供电设备和低功耗控制系统。其宽广的供电电压范围(2.7V至5.5V)使其兼容多种电源设计,包括3.3V和5V系统。此外,A1155LUBTN-F-T具有优异的温度稳定性,能够在-40°C至+85°C的工业级温度范围内保持一致的性能。
该IC内置上拉电阻,简化了外部电路设计,减少了PCB布局的复杂性。其快速响应时间(典型值13μs)使其适用于高速检测应用,如电机转速检测、旋转编码器和接近开关。A1155LUBTN-F-T还具有较强的抗静电(ESD)能力和过压保护功能,增强了器件在恶劣工业环境中的耐用性。
此外,该器件采用小型SOT-23封装,占用空间小,便于集成到紧凑型电子产品中。其无接触式检测原理不仅提高了使用寿命,还降低了机械磨损带来的维护成本。这些特性使A1155LUBTN-F-T成为工业自动化、消费类电子产品、白色家电和汽车电子系统中磁性传感的理想选择。
A1155LUBTN-F-T广泛应用于多种磁性传感场景,包括但不限于:工业自动化中的接近开关和位置检测系统,用于监测机械运动部件的位置变化;消费电子产品中的翻盖检测、旋转检测和磁性附件识别,例如智能手机、平板电脑和可穿戴设备;白色家电中的门开闭检测和电机控制,如洗衣机、冰箱和微波炉;汽车电子系统中的速度传感器、踏板位置检测和无钥匙进入系统;以及电动工具和无刷直流电机中的换向控制和转速测量。
此外,A1155LUBTN-F-T也可用于智能电表中的防篡改检测、自动售货机中的硬币识别、安全系统中的门窗传感器等应用。其低功耗特性和宽电压输入范围使其在物联网(IoT)设备和无线传感网络中同样表现出色。
A3144E-S-T, AH180-LC, DRV5032DSDCR