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2N7002-7-F 发布时间 时间:2024/6/28 13:58:14 查看 阅读:336

2N7002-7-F是一个N沟道MOSFET晶体管,它是由ON Semiconductor公司制造的。这个器件在SOT-23封装中提供,封装非常小巧,适合在有限空间的应用中使用。
  2N7002-7-F具有低导通电阻和低漏电流,使其适用于低功率应用。该器件的导通电阻通常为5.0欧姆,漏电流通常为10nA。这些特性使其非常适合用作电源开关、模拟开关和电平转换器。
  2N7002-7-F的最大耐压为60V,最大漏电流为500mA。它的输入电容很小,通常为15pF,这意味着它可以快速开关,适用于高频应用。
  此外,2N7002-7-F还具有温度稳定性好的优点,可以在-55°C至150°C的温度范围内正常工作。这使得它非常适合在各种环境条件下使用。

参数和指标

导通电阻:5.0欧姆
  最大耐压:60V
  最大漏电流:500mA
  输入电容:15pF
  工作温度范围:-55°C至150°C

组成结构

2N7002-7-F由以下几个主要组成部分构成:
  衬底(Substrate):晶体管的基底,通常是p型硅衬底。
  接源区(Source Region):为n型材料,与衬底相连。
  接漏区(Drain Region):为n型材料,与衬底相隔一定距离。
  门极(Gate):由金属或多晶硅制成,与绝缘层隔离。

工作原理

当外加正向偏置电压施加在晶体管的源极和漏极之间时,形成一个正向电场,使得n型沟道区变窄,减小了沟道上的电阻,从而导通。当外加负向偏置电压施加在晶体管的源极和漏极之间时,形成一个负向电场,使得沟道区变宽,增加了沟道上的电阻,从而截止。

技术要点

低导通电阻和低漏电流:2N7002-7-F具有低导通电阻和低漏电流,适用于低功率应用。
  高耐压:该器件的最大耐压为60V,适用于高压应用。
  温度稳定性:2N7002-7-F具有良好的温度稳定性,可以在广泛的温度范围内正常工作。

设计流程

确定应用需求:根据具体应用,确定所需的电压、电流和频率等参数。
  选择合适的器件:根据需求,选择适合的2N7002-7-F晶体管,考虑其参数和指标。
  电路设计:根据应用需求,设计相应的电路,包括源极、漏极和门极的连接方式以及外部元件的选择。
  电路模拟和验证:使用电路仿真软件对设计的电路进行模拟和验证,确保其性能和稳定性。
  原型制作和测试:根据设计结果,制作实际的电路原型,并进行测试和调试。
  优化和改进:根据测试结果,对电路进行优化和改进,以提高性能和稳定性。

注意事项

适当的散热:在高功率应用中,2N7002-7-F可能会产生较多的热量,需要适当的散热措施。
  静电保护:在处理2N7002-7-F器件时,应注意静电保护,避免损坏器件。
  适当的电压和电流限制:在使用2N7002-7-F时,应确保电压和电流在器件的允许范围内,避免损坏器件。

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2N7002-7-F参数

  • 标准包装3,000
  • 类别分离式半导体产品
  • 家庭FET - 单
  • 系列-
  • FET 型MOSFET N 通道,金属氧化物
  • FET 特点标准型
  • 漏极至源极电压(Vdss)60V
  • 电流 - 连续漏极(Id) @ 25° C115mA
  • 开态Rds(最大)@ Id, Vgs @ 25° C7.5 欧姆 @ 50mA,5V
  • Id 时的 Vgs(th)(最大)2.5V @ 250µA
  • 闸电荷(Qg) @ Vgs-
  • 输入电容 (Ciss) @ Vds50pF @ 25V
  • 功率 - 最大300mW
  • 安装类型表面贴装
  • 封装/外壳TO-236-3,SC-59,SOT-23-3
  • 供应商设备封装SOT-23-3
  • 包装带卷 (TR)
  • 其它名称2N7002-FDITR