分辨率：最高可达 1 μm
　　电压范围：50 kV - 160 kV
　　放大倍数：2000x 可调
　　检测速度：最快 30 秒/件
　　图像处理：16 位灰度图像处理
　　机械运动：XYZ 三轴自动控制
　　检测尺寸：最大支持 400mm x 400mm PCB 板
　　安全防护：符合 IEC 61331-1 标准

XRD4418ACQ-S1326 采用高精度 X 射线源和先进的图像处理系统，能够实现微米级别的缺陷检测，适用于各种高密度电子组件的检测需求。该设备具备自动检测功能，能够根据预设的检测程序自动完成图像采集、分析和报告生成，大大提高了检测效率和一致性。设备内置多种检测模式，支持 2D 和 3D 成像，能够满足不同工艺的检测需求。此外，XRD4418ACQ-S1326 还配备了强大的数据分析软件，支持缺陷分类、尺寸测量和趋势分析，帮助用户快速定位问题并优化生产工艺。设备的机械结构采用高稳定性设计，确保在长时间运行中保持检测精度，同时具备自动校准功能，简化了设备的维护和调试流程。

XRD4418ACQ-S1326 广泛应用于电子制造、汽车电子、航空航天、医疗设备等领域的质量检测环节。它特别适用于 SMT 产线中的焊点检测、BGA 和 Flip Chip 的封装质量检查，以及 PCB 板内部结构的无损检测。该设备还可用于研发阶段的失效分析和生产过程中的过程控制，帮助企业提升产品质量和生产效率。

XRD4418ACQ-S1326 的替代型号包括 XRD4418ACQ-S1325、XRD4418ACQ-S1327 以及 Nikon Metrology 的 XT V 160 或 Nordson Yxlon 的 Y.Cheetah S 系列。