XAP-15V-1-E 时间：2025/10/11 14:20:08 阅读：27

XAP-15V-1-E是一款由Littelfuse公司生产的瞬态电压抑制二极管阵列（TVS Array），专为高速数据接口和敏感电子电路的静电放电（ESD）保护而设计。该器件采用微型表面贴装封装，适用于需要高密度布局和紧凑设计的现代电子设备。XAP-15V-1-E集成了多个TVS二极管，能够在极短时间内响应瞬态过电压事件，将电压钳位到安全水平，从而有效保护下游集成电路免受ESD、电快速瞬变脉冲群（EFT）和其他瞬态干扰的损害。该器件特别适合用于便携式消费类电子产品、通信设备以及工业控制系统中对信号完整性要求较高的场合。
　　该器件的工作原理基于雪崩击穿机制，当输入端出现超过其击穿电压的瞬态电压时，TVS二极管迅速从高阻态切换至低阻态，将大部分瞬态电流旁路到地，同时将被保护线路的电压限制在安全范围内。XAP-15V-1-E具有低电容特性，确保了其在高速信号线路上的应用不会显著影响信号质量，支持USB、HDMI、SD卡接口、音频线路等多种高速差分或单端信号传输协议。此外，其封装形式便于自动化贴片生产，提升了制造效率与可靠性。

参数

型号：XAP-15V-1-E
　　制造商：Littelfuse
　　通道数：1
　　工作电压（VRWM）：15V
　　击穿电压（VBR）：16.7V @ 1mA
　　最大钳位电压（VC）：24.4V @ IPP = 1A
　　峰值脉冲电流（IPP）：1A
　　电容典型值（Ct）：10pF @ 0V, 1MHz
　　漏电流（IR）：小于1μA @ VRWM
　　封装类型：SOD-523
　　极性：双向
　　功率（峰值脉冲）：100W（8/20μs波形）
　　工作温度范围：-55°C 至 +150°C
　　存储温度范围：-55°C 至 +150°C

特性

XAP-15V-1-E具备优异的瞬态抑制性能，能够承受IEC 61000-4-2 Level 4（±8kV接触放电，±15kV空气放电）标准下的多次ESD冲击而不发生性能退化，确保系统在严苛电磁环境中的长期稳定性。其核心优势之一是极低的结电容（典型值仅为10pF），这一特性使其非常适合应用于高频信号线路，如USB 2.0、高速GPIO、I2C、SPI等接口，在提供强大保护能力的同时几乎不引入信号失真或延迟，避免了因寄生电容导致的高频衰减或反射问题，保障了信号完整性和通信可靠性。
　　该器件采用双向结构设计，可对正负极性的瞬态电压进行有效抑制，适用于交流或双极性信号路径的保护场景。SOD-523超小型封装不仅节省PCB空间，还具备良好的热稳定性和机械强度，适应回流焊工艺流程，并能在有限空间内实现多点防护布局。XAP-15V-1-E的低钳位电压特性意味着在瞬态事件发生时，传递到后级IC的残压更低，显著提高了敏感元件（如MCU、ASIC、传感器等）的生存率。此外，其快速响应时间（通常小于1纳秒）确保在ESD事件发生的瞬间即可启动保护机制，远快于大多数半导体器件的损坏速度，从而实现“先发制人”的防护效果。
　　从材料和工艺角度看，XAP-15V-1-E符合RoHS环保指令要求，无铅且绿色环保，适用于全球市场的电子产品出口需求。器件内部采用可靠的硅基PN结技术，经过严格的老化测试和批次一致性验证，保证了产品在批量应用中的稳定性和可追溯性。对于设计师而言，该TVS阵列无需额外偏置电路或复杂外围元件即可直接并联在信号线上使用，简化了电路设计流程，降低了整体BOM成本和调试难度。

应用

XAP-15V-1-E广泛应用于各类需要抗静电和瞬态干扰保护的电子系统中，尤其是在便携式消费类电子产品领域表现突出，例如智能手机、平板电脑、可穿戴设备（如智能手表、健康监测仪）中的按键、耳机插孔、充电接口等易受人体接触ESD影响的节点。在通信接口方面，它常用于保护UART、I2C、SPI、GPIO等低速控制总线，防止因操作人员带电接触或环境静电积累而导致主控芯片闩锁或烧毁。
　　在工业控制和自动化设备中，XAP-15V-1-E可用于PLC模块、人机界面（HMI）、传感器信号调理电路等场合，抵御来自电源波动、继电器开关引起的电快速瞬变（EFT）以及雷击感应带来的共模/差模干扰。此外，在汽车电子系统中，尽管该器件并非专为AEC-Q101认证设计，但仍可用于车载信息娱乐系统的辅助信号线路、USB充电端口或诊断接口的次级保护层，配合主保护器件形成多级防护体系。医疗电子设备中对可靠性和安全性要求极高，XAP-15V-1-E可用于病人连接接口附近的信号线保护，防止外部静电通过探头或导联线进入主机造成故障。总之，任何存在暴露接口、频繁插拔或处于干燥高静电环境的应用场景，都是XAP-15V-1-E的理想用武之地。