类型：NOR Flash
　　接口：SPI, QPI
　　容量：75 Mbit
　　电压范围：2.7V ~ 3.6V
　　工作温度：-40°C ~ +85°C
　　封装：SOP-8, WSON-8
　　时钟频率：104 MHz
　　写入耐久性：100,000 次编程/擦除周期
　　数据保持时间：20 年
　　组织结构：按页编程（256 字节/页），扇区擦除（4KB）、块擦除（64KB）

WR25X750JTL 具备多项先进的功能特性，使其在众多串行闪存解决方案中脱颖而出。首先，它支持高速 Quad SPI 和 QPI 模式，在双 I/O 和四 I/O 配置下可显著提升吞吐量，最大时钟频率可达 104MHz，从而实现高达 416 Mbps 的理论数据传输速率（在 QPI 模式下）。这对于实时操作系统启动、固件快速加载以及图形资源读取等应用场景至关重要。
　　其次，该器件集成了高效的内存管理机制，包括灵活的擦除单位（4KB 扇区、64KB 块）和逐页编程能力（每页 256 字节），允许开发者精细控制存储操作，减少不必要的全片擦除，延长使用寿命并提高效率。此外，芯片内置写保护功能，可通过软件指令或硬件引脚（如 /WP 和 /HOLD）实现对状态寄存器及特定地址区域的写入锁定，防止意外修改关键数据，增强系统可靠性。
　　WR25X750JTL 还具备卓越的环境适应性，支持工业级宽温工作范围（-40°C 至 +85°C），确保在极端温度条件下仍能稳定运行。其低功耗设计包含主动读取电流、待机电流优化以及深度掉电模式（Deep Power-down Mode），有助于延长电池供电设备的工作时间。同时，器件符合 RoHS 环保标准，并通过了严格的可靠性测试，包括高温存储、温湿度循环和高压蒸煮试验，确保长期使用的数据完整性。
　　安全方面，该芯片提供软件和硬件结合的安全机制，支持通过命令序列启用/禁用写保护，防止误操作导致固件损坏。部分型号还兼容 JEDEC 标准的识别寄存器，便于主机系统自动识别制造商、设备类型和容量信息。总体而言，WR25X750JTL 凭借其高性能、高可靠性和灵活性，成为许多中高端嵌入式系统的首选串行闪存方案。

WR25X750JTL 被广泛用于多种需要高效非易失性存储的电子系统中。常见应用包括嵌入式微控制器单元（MCU）外部程序存储，特别是在 ARM Cortex-M、ESP32、STM32 等架构的开发板上用于存放引导代码、操作系统镜像或应用程序固件。
　　在网络通信设备领域，如路由器、交换机和 IoT 网关中，该芯片用于存储配置文件、固件更新包以及日志数据，其高速读取能力有助于加快设备启动速度和响应性能。
　　在消费类电子产品中，例如智能电视、机顶盒、数码相机和便携式音频播放器，WR25X750JTL 可作为图形界面资源、字体库或用户设置的存储介质。
　　工业自动化控制系统也大量采用此类闪存芯片，用于保存校准参数、运行记录和PLC程序代码，尤其适用于需长期稳定运行且抗干扰能力强的场合。
　　此外，汽车电子中的车载信息娱乐系统（IVI）、仪表盘显示模块以及 ADAS 辅助驾驶系统的传感器固件存储也可能使用该等级的 SPI NOR Flash，前提是满足 AEC-Q100 等车规认证要求（若为工业级版本则需评估具体应用场景）。
　　由于其小尺寸封装和低引脚数特点，WR25X750JTL 特别适合 PCB 空间有限的高密度设计，是兼顾成本、性能与可靠性的理想选择。

W25Q64JV, W25X80, W25Q80DV