时间：2025/6/19 1:43:23
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TPD4EUSB30DQAR-N 是一款由德州仪器 (TI) 推出的用于保护 USB 3.0 高速接口的 ESD（静电放电）防护器件。该器件具有低电容特性，能够有效减少对高速信号传输的影响，同时提供高达 ±20kV 的接触放电保护，确保 USB 端口在各种环境下的可靠运行。
TPD4EUSB30DQAR-N 支持 USB 3.0 标准的高速数据速率（最高可达 5Gbps），并采用了小尺寸的 DQFN 封装，非常适合空间受限的应用场景。
工作电压：5V
ESD 保护等级：±20kV 接触放电 / ±20kV 空气放电
电容值：0.7pF（典型值）
插入损耗：-0.1dB（最大值，@5GHz）
封装类型：DQFN-8
工作温度范围：-40°C 至 +85°C
引脚间距：0.65mm
TPD4EUSB30DQAR-N 提供了卓越的 ESD 防护能力，适用于需要高可靠性保护的 USB 应用。
其主要特性包括：
- 超低负载电容 (0.7pF)，几乎不影响高速信号完整性。
- 集成了双向钳位二极管阵列，可以快速响应和抑制瞬态电压。
- 支持 USB 3.0 兼容的超高速数据传输。
- 小巧的封装设计适合便携式设备。
- 符合 RoHS 标准，环保无铅材料。
- 工作温度范围宽广，适应多种使用环境。
此外，这款芯片还具备低泄漏电流特性，从而减少了对系统功耗的影响。
TPD4EUSB30DQAR-N 广泛应用于需要保护 USB 3.0 接口免受 ESD 损害的各种电子设备中，具体应用包括：
- 笔记本电脑和超极本
- 平板电脑与智能手机
- USB 集线器及扩展坞
- 数码相机和其他多媒体设备
- 工业控制设备中的 USB 接口
- 医疗设备中的高速数据接口
- 便携式音频/视频播放器
总之，任何需要高速数据传输且对静电敏感的设计均可受益于该器件。
TPD4EUSB30DBVR, TPD4SUSB30DQAR, TPD4EUSB30-Q1
