类型：线性CMOS图像传感器
　　像素数量：5000像素（典型值）
　　像素尺寸：7μm × 7μm
　　光敏区域长度：约35mm（取决于具体配置）
　　输出类型：模拟输出
　　供电电压：+5V（逻辑及模拟部分）
　　工作温度范围：-10°C 至 +60°C
　　存储温度范围：-25°C 至 +85°C
　　接口类型：时钟/复位/输出信号引脚
　　封装形式：DIP-16（陶瓷或塑料DIP）
　　光谱响应范围：400nm ~ 1100nm（峰值响应在可见光至近红外区域）
　　最大时钟频率：典型值为2MHz
　　暗电流：典型值低于100mV/s @ 25°C
　　灵敏度：典型值为1.5V/lux-s
　　信噪比：典型值大于60dB
　　动态范围：典型值为66dB

TCD42B1DND具备优异的光电转换性能，其核心特性之一是高分辨率线性阵列设计，包含多达5000个感光像素点，能够实现精细的图像细节捕捉，适用于高精度扫描应用。每个像素采用优化的光电二极管结构，配合微透镜技术，显著提升了量子效率和填充因子，从而增强了整体感光能力。该传感器支持非破坏性读出模式与时序可编程功能，用户可通过调整积分时间和驱动频率来灵活匹配不同光源条件下的成像需求。此外，TCD42B1DND集成了片上偏置电路和输出缓冲放大器，确保输出信号稳定性并减少外部干扰影响。
　　另一个关键特性是其出色的噪声抑制能力。通过采用相关双采样（CDS）兼容设计，可以在后续信号处理电路中有效消除复位噪声和固定模式噪声（FPN），从而大幅提升图像质量。同时，该器件内置暗参考像素区域，用于实时监测暗电平变化，便于系统进行自动黑电平校正。这种设计特别适用于长时间曝光或多环境切换的应用场景，保证了输出信号的一致性和准确性。TCD42B1DND还具备良好的温度稳定性和抗辐射能力，在复杂工业环境中仍能保持可靠运行。
　　在系统集成方面，TCD42B1DND采用标准DIP封装，引脚定义清晰，易于焊接和维护。其驱动逻辑兼容TTL/CMOS电平，方便与FPGA、DSP或专用图像处理器连接。器件支持多模式操作，包括正常读出、跳行读出和测试模式，满足多样化应用需求。此外，由于其低功耗特性和无需高压电源的设计，使得整个成像系统的电源设计更为简化，降低了整体系统成本和复杂度。这些综合优势使TCD42B1DND成为工业扫描、文档数字化、质量检测等领域中备受信赖的图像传感解决方案。

TCD42B1DND主要用于各类需要高分辨率线性图像采集的工业和商业设备中。典型应用场景包括平板扫描仪、文档扫描系统、条码识别装置、X射线成像辅助探测器以及自动化光学检测（AOI）设备。在这些系统中，该传感器负责将纸质文档、实物表面或特定材料上的光学信息转化为电信号，进而由后续ADC和图像处理单元完成数字化重建。由于其宽广的光谱响应范围覆盖可见光至近红外波段，TCD42B1DND也可用于特殊材质的识别与分类，例如油墨检测、荧光分析或半透明物体成像。
　　在医疗成像领域，TCD42B1DND被应用于牙科口内扫描仪或胶片数字化仪中，利用其高动态范围和低噪声特性获取清晰的人体组织影像。同时，在制造业中，该传感器常被集成于生产线上的视觉检测系统，用于检测产品表面缺陷、尺寸偏差或印刷图案完整性，提高生产良率和自动化水平。此外，科研仪器如光谱仪、显微成像系统也采用此类线阵传感器作为核心探测元件，实现精确的数据采集。得益于其稳定的性能表现和成熟的配套方案，TCD42B1DND在多个行业中持续发挥重要作用。

TCD1500D
　　TCD1501D
　　IL-X503