SN74AS280NS 是一款由 Texas Instruments(德州仪器)生产的 9 位奇偶校验发生器/校验器集成电路。该芯片属于先进的高速 TTL(Transistor-Transistor Logic)逻辑家族,主要用于在数字系统中生成或校验数据传输过程中的奇偶校验位。SN74AS280NS 可处理最多 9 个输入数据位,并根据用户选择的模式输出偶校验(Even)或奇校验(Odd)信号。其设计适用于计算机内存系统、总线接口、数据通信设备以及需要错误检测机制的数字电路中。
类型:奇偶校验发生器/校验器
电源电压:4.75V 至 5.25V
工作温度范围:-40°C 至 +85°C
封装类型:16 引脚 SOIC(小外形集成电路)
输入数量:9 位
输出信号:偶校验(EVEN)、奇校验(ODD)、级联输入(CASC IN)
传播延迟(典型值):约 3.5ns(在 5V 电源下)
逻辑电平:TTL 兼容
最大工作频率:可支持高达 100MHz 的数据速率
SN74AS280NS 是一款功能强大且高速的奇偶校验逻辑芯片,其核心功能是为数字系统提供硬件级的错误检测机制。该芯片支持最多 9 位输入数据,并根据输入数据计算出奇校验和偶校验结果,用户可根据需要选择使用奇校验输出或偶校验输出。此外,它还提供了一个级联输入(CASC IN),允许将多个 SN74AS280NS 芯片连接在一起,以支持更宽的数据总线(如 18 位、27 位等)。
该芯片采用了先进的高速 TTL(AS 系列)技术,具备较低的传播延迟(典型值为 3.5ns),非常适合用于高速数据处理系统。其工作电压范围为 4.75V 至 5.25V,能够适应标准的 5V 电源供电环境。封装形式为 16 引脚 SOIC,便于表面贴装,适合在空间受限的 PCB 设计中使用。
SN74AS280NS 的输入端具备高抗干扰能力,可在较恶劣的电气环境中保持稳定工作。其输出驱动能力强,能够直接驱动多个 TTL 负载。此外,芯片内置的逻辑结构优化设计,使其在高速操作下仍能保持较低的功耗和噪声干扰。
SN74AS280NS 广泛应用于需要数据完整性保障的数字系统中。常见的应用包括计算机内存模块(如 ECC 内存)中的错误检测、总线接口控制、数据通信设备(如串口通信、并口通信)中的奇偶校验生成与验证、以及工业控制系统中的数据传输校验等。在嵌入式系统和 FPGA 接口设计中,该芯片也常用于实现高速数据流的实时校验功能,提高系统的可靠性与稳定性。
SN74AS280N(PDIP 封装版本), 74ACT280SC(CMOS 兼容版本), MC74AC280(CMOS 工艺版本)