LTST-C170QRKT 是一款由 Analog Devices(亚德诺半导体)公司生产的高精度、低功耗、24位模数转换器(ADC)芯片。该芯片属于 Analog Devices 的 Precision ADC 系列,专为需要高分辨率和低噪声性能的工业测量、传感器接口和精密数据采集系统设计。LTST-C170QRKT 集成了一个高精度的24位 ADC 内核、可编程增益放大器(PGA)、内部温度传感器以及多种系统校准功能,使其能够在复杂环境下提供稳定、精确的测量结果。该芯片采用 16 引脚 TSSOP 封装,适合工业级温度范围(-40°C 至 +85°C),具备出色的可靠性和稳定性。
类型:24位模数转换器(ADC)
分辨率:24位
采样率:最大 4kSPS(通过数字滤波器控制)
输入类型:差分/单端可配置
PGA增益范围:1至128(可编程)
电压参考:内置 2.5V 基准电压源,也可使用外部参考
电源电压:2.7V 至 5.25V
接口类型:SPI兼容数字接口
工作温度范围:-40°C 至 +85°C
封装类型:16引脚 TSSOP
功耗:典型值 0.4mA(待机模式下更低)
噪声性能:极低噪声,适合高精度测量
内部功能:偏移和增益校准、温度传感器、CRC校验
LTST-C170QRKT 的核心特性在于其高分辨率和低噪声的24位 ADC 结构,能够实现非常精确的模拟信号数字化。其内置的可编程增益放大器(PGA)允许用户根据输入信号幅度灵活调整增益,从而提高小信号测量的精度。该芯片支持单端和差分输入模式,适用于多种传感器接口应用。
LTST-C170QRKT 内部集成了一个高精度的 2.5V 基准电压源,用户也可以选择使用外部基准以满足更高精度或特殊应用需求。该芯片支持 SPI 兼容的数字接口,方便与微控制器或其他数字系统连接。
为了提升系统可靠性和测量精度,LTST-C170QRKT 提供了多种系统校准选项,包括偏移校准和增益校准。此外,它还集成了一个温度传感器,可用于监控芯片内部温度,辅助系统进行温度补偿。该芯片还具备 CRC 校验功能,确保数据传输的完整性。
在功耗方面,LTST-C170QRKT 设计为低功耗模式运行,典型电流消耗仅为 0.4mA,并支持待机模式以进一步降低功耗。这使其非常适合电池供电或对功耗敏感的应用场景。
LTST-C170QRKT 广泛应用于需要高精度测量的工业和科学仪器中。典型应用包括压力传感器、称重系统、温度测量设备、工业自动化控制系统、数据采集系统、医疗设备、精密电子秤以及电池供电的便携式测量仪器。由于其内置的 PGA 和校准功能,该芯片也非常适合用于桥式传感器(如压力桥、应变片)的信号调理和数字化处理。
AD7798, AD7190, LTC2400