LP-MSM150/24 时间：2025/12/25 14:26:11 阅读：11

LP-MSM150/24是一款由LumaSense Technologies（现为AMETEK收购）生产的微型比色高温计，专为非接触式温度测量而设计。该设备基于比色测温原理，即通过测量两个不同波长下的辐射能量比率来确定目标的温度。这种方法相较于单波段红外测温技术具有显著优势，尤其是在存在部分遮挡、发射率变化或观测窗口污染的情况下仍能保持较高的测量精度。LP-MSM150/24适用于高温环境下的精确测温，典型应用包括金属热处理、半导体制造、玻璃加工以及陶瓷烧结等工业领域。
　　该型号名称中的“LP”代表低功率或紧凑型系列，“MSM”表示微型比色测温仪，“150”通常指其最大可测温度约为1500°C（具体范围可能因配置而异），而“/24”则表明其光学分辨率为24:1，意味着在距离目标24英寸处，光斑直径为1英寸。这种高分辨率使其能够准确测量较小的目标区域，适合空间受限或需要精确定位的应用场景。
　　LP-MSM150/24采用坚固的不锈钢外壳设计，具备良好的抗电磁干扰能力和环境适应性，可在恶劣工业环境中稳定运行。它支持模拟输出（如4–20 mA或0–10 V）和数字通信接口（可选RS485/MODBUS协议），便于集成到自动化控制系统中。此外，该仪器可通过前面板按钮或配套软件进行参数设置和校准，用户可以调整发射率、设定报警阈值、选择响应时间等，以满足不同工艺需求。

参数

测量温度范围：600 to 1500 °C
　　光谱响应波段：约0.65 μm 和 0.90 μm（双波长）
　　光学分辨率（距离系数比）：24:1
　　响应时间：≤ 1 ms
　　精度：±0.3% of reading 或 ±2°C，取较大值
　　重复性：±0.1% of reading
　　发射率调节范围：0.10 to 1.00（可调）
　　输出信号：4–20 mA（两线制）或 0–10 VDC
　　供电电源：15–30 VDC
　　工作环境温度：0 to 70 °C（电子部件）
　　防护等级：IP65（带适配器时）
　　视场角：约2.5°
　　重量：约180 g

特性

LP-MSM150/24采用比色测温法，即同时检测两个相邻波长（通常是红光与近红外）的辐射强度比值来进行温度计算。这种原理的核心优势在于其对发射率变化不敏感。在实际工业应用中，被测物体表面状态（如氧化、粗糙度变化）会导致发射率波动，从而严重影响传统单波段红外测温仪的准确性。而比色法通过比率运算，在一定程度上消除了发射率的影响，即使发射率未知或动态变化，也能实现相对稳定的温度读数。
　　该高温计具备极快的响应速度（≤1毫秒），使其非常适合用于快速变化的热过程监控，例如感应加热、激光焊接或高速轧制生产线。其24:1的高光学分辨率确保了即使在较远距离下也能聚焦于小尺寸目标，避免背景热源干扰，提高测量的空间选择性和准确性。设备内部使用高质量的光电探测器和信号处理电路，结合精密光学滤光片，保证了在宽温度范围内的一致性和长期稳定性。
　　为了适应复杂安装环境，LP-MSM150/24提供多种安装选项，包括螺纹接口和可调支架，并支持风冷或水冷套件以增强在极端高温环境下的耐受能力。其前端镜头可配备蓝宝石窗以抵抗刮擦和化学腐蚀，延长使用寿命。电子模块经过优化设计，具备良好的电磁兼容性（EMC），可在强电场或变频器附近可靠工作。整体结构紧凑轻便，便于集成到现有设备中，尤其适用于空间受限的场合。用户可通过本地按键或远程软件完成参数配置，包括设定温度单位、输出模式、报警逻辑等功能，提升了操作灵活性。

应用

LP-MSM150/24广泛应用于需要高精度、高稳定性的非接触式高温测量场景。在冶金行业中，常用于监测钢坯、钢板、钢管在加热炉、退火线或连铸过程中的表面温度，特别是在氧化皮生成导致发射率不稳定的情况下，比色测温的优势尤为突出。在半导体制造领域，可用于晶体生长炉、外延沉积设备中的温度监控，保障工艺一致性。
　　在玻璃工业中，该传感器可用于熔融玻璃液面温度测量或成型过程中制品的温度跟踪，帮助控制冷却速率和产品质量。陶瓷与耐火材料生产中，烧成带的窑炉温度监测也依赖此类高可靠性测温装置。此外，在科研实验装置如高温电弧炉、等离子体反应器中，LP-MSM150/24因其快速响应和抗干扰能力成为理想的测温工具。
　　由于其小巧的设计和优异的环境适应性，该设备还可用于自动化装配线上的实时质量控制环节，例如检测电机绕组、变压器铁芯或其他电子元件在老化测试中的温升情况。配合PLC或SCADA系统，可实现闭环温度调节，提升生产效率与产品良率。