时间:2025/12/27 15:51:23
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KS12R22CQD是一款由三星(Samsung)推出的嵌入式NAND闪存存储芯片,广泛应用于移动设备、消费类电子产品以及嵌入式系统中。该器件属于三星K9系列的衍生型号之一,采用先进的3D V-NAND技术制造,具备较高的存储密度、读写性能和可靠性。KS12R22CQD的具体封装形式为BGA,适用于空间受限的高集成度设计场景。该芯片通常用于智能手机、平板电脑、物联网设备以及其他需要非易失性大容量存储的应用领域。其内部结构由多个NAND闪存晶粒组成,支持高效的多平面操作和交错式读写,从而提升整体数据吞吐能力。此外,该器件集成了控制器功能或需配合主控使用,支持ECC纠错机制以确保数据完整性,并具备良好的功耗管理特性,适合电池供电设备长期运行。作为一款工业级器件,KS12R22CQD在温度范围、耐久性和数据保持能力方面均符合严格的电子行业标准,能够在-40°C至+85°C的宽温范围内稳定工作,满足多种复杂环境下的应用需求。
型号:KS12R22CQD
制造商:Samsung
存储类型:3D NAND Flash
存储容量:128Gbit (16GB)
接口类型:ONFI 3.2 或 Toggle Mode 3.0
封装类型:BGA
引脚数:153-pin
工作电压:Vcc: 2.7V ~ 3.6V, VccQ: 1.7V ~ 1.95V
工作温度范围:-40°C ~ +85°C
读取延迟:典型值约 50μs
编程时间:页编程平均时间 ≤ 500μs
擦除时间:块擦除平均时间 ≤ 3ms
耐久性:10,000次编程/擦除周期
数据保持时间:10年(在额定工作条件下)
页面大小:16KB + 896B OOB
块大小:256 页面/块
平面结构:四平面架构(Multi-plane Operation Support)
传输速率:支持高达 533MB/s 的突发读取速度(Toggle Mode 3.0)
KS12R22CQD采用三星先进的3D Vertical NAND(V-NAND)技术,通过垂直堆叠存储单元的方式大幅提升存储密度与性能表现,同时降低单位比特成本。这种架构有效克服了传统平面NAND在工艺微缩过程中遇到的物理极限问题,如电荷泄漏和干扰增加等。该芯片支持Toggle Mode 3.0高速接口协议,提供高达533MB/s的数据传输速率,显著优于早期ONFI 2.1或异步接口方案,特别适用于需要快速加载操作系统、应用程序及多媒体内容的移动设备。
该器件具备强大的错误校正能力,内置高级ECC(Error Correction Code)机制,可实时检测并纠正多位错误,确保在长时间运行或恶劣环境下数据的完整性和可靠性。此外,KS12R22CQD还支持动态坏块管理和磨损均衡算法,延长使用寿命并提高系统稳定性。其四平面(Quad Plane)操作功能允许同时对四个独立平面执行读、写或擦除操作,极大提升了并发处理能力和I/O效率。
在功耗控制方面,KS12R22CQD优化了待机与活动状态下的能耗表现,支持多种低功耗模式,包括睡眠模式和深度断电模式,有助于延长便携式设备的电池续航时间。该芯片符合RoHS环保标准,采用无铅封装材料,适用于全球市场的电子产品设计需求。其BGA封装具有良好的电气性能和热稳定性,便于自动化贴片生产,适合大规模批量制造。
KS12R22CQD主要用于需要高可靠性和紧凑尺寸的嵌入式存储解决方案。典型应用包括中高端智能手机和平板电脑中的固件存储或用户数据存储模块,作为eMMC或UFS模组的核心NAND颗粒使用。在物联网(IoT)设备中,例如智能网关、工业传感器节点和边缘计算终端,该芯片可用于保存配置信息、日志数据和操作系统镜像,支持长时间无人值守运行。
在车载电子系统中,KS12R22CQD可用于车载信息娱乐系统(IVI)、行车记录仪和ADAS辅助驾驶模块的数据缓存与本地存储,凭借其宽温特性和抗振动设计,能够适应复杂的车辆运行环境。此外,在工业控制领域,如PLC控制器、HMI人机界面设备和POS收银机中,该芯片提供稳定的非易失性存储支持,保障关键数据不丢失。
由于其高耐用性和数据保持能力,KS12R22CQD也适用于医疗设备中的参数记录、健康监测数据存储等场景。在消费类电子产品如智能手表、无线耳机和智能家居中枢设备中,该芯片可在有限空间内实现较大的存储容量,满足日益增长的软件功能需求。同时,它还可作为嵌入式系统启动介质,用于快速加载Bootloader和操作系统内核,提升设备开机响应速度。
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