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K9K2G08UOM-VIBO 发布时间 时间:2025/11/19 14:27:13 查看 阅读:8

K9K2G08UOM-VIBO是三星(Samsung)生产的一款基于NAND闪存技术的存储芯片,属于宽温度范围、高可靠性的嵌入式存储解决方案,广泛应用于需要持久化数据存储的电子设备中。该芯片采用8位并行接口设计,具备较高的读写效率和稳定性,适用于工业控制、网络通信、消费电子及车载系统等对数据完整性要求较高的场景。其封装形式为TSOP-48,便于在空间受限的PCB板上进行布局与焊接。K9K2G08UOM-VIBO遵循标准的NAND Flash命令集,支持页编程、块擦除和随机读取等基本操作,并内置坏块管理机制以提升使用寿命和可靠性。该器件无需外部电池即可实现非易失性存储,在断电后仍能长期保存数据。此外,它还具备较强的抗干扰能力和良好的耐久性,适合在复杂电磁环境或恶劣工作条件下运行。随着嵌入式系统对存储容量和性能需求的不断提升,K9K2G08UOM-VIBO凭借其成熟的技术架构和稳定的供货能力,成为许多传统工业设计中的首选NAND Flash型号之一。

参数

类型:NAND Flash
  接口类型:Parallel (8-bit)
  存储容量:2 Gb (256 MB)
  工艺制程:32nm
  电压:2.7V ~ 3.6V
  工作温度:-40°C ~ +85°C
  封装:TSOP-1 (48-pin)
  页大小:2048字节 + 64字节 OOB
  块大小:64页
  每块编程时间:典型200μs
  块擦除时间:典型2ms
  待机电流:≤12μA
  编程/读取电流:≤25mA
  数据保持时间:10年(在+25°C下)
  耐久性:100,000次编程/擦除周期
  支持SLC技术:是
  地址/数据复用:否(独立总线)

特性

K9K2G08UOM-VIBO作为一款SLC(Single-Level Cell)NAND闪存器件,具有出色的可靠性与耐用性,每个存储单元仅存储1比特数据,从而显著降低读写错误率并提高整体数据完整性。相比MLC或TLC结构,SLC结构在高温、频繁写入和长期使用环境下表现更为稳定,尤其适用于工业级应用场景。该芯片支持标准的ONFI 1.0兼容命令协议,允许主机控制器通过简单的命令序列完成初始化、读写和擦除操作,降低了系统开发难度。其内部组织为2Gb容量,划分为2048个块,每个块包含64个页,每页2048字节数据区加64字节OOB(Out-of-Band)区域,用于存放ECC校验码、坏块标记或其他元数据。这种结构便于实现高效的文件系统管理如YAFFS或JFFS2。芯片具备自动编程和自动擦除功能,所有操作均由片内状态机控制,减轻了主控处理器的负担。同时,其快速的页编程时间(约200微秒)和块擦除时间(约2毫秒)确保了较高的数据吞吐能力。该器件采用低功耗设计,在待机模式下电流消耗低于12μA,适合电池供电或节能型设备使用。宽温工作范围(-40°C至+85°C)使其可在极端环境中稳定运行,满足工业和车载应用的标准要求。此外,封装采用TSOP-48,符合行业通用标准,易于自动化贴装与返修。尽管当前新型串行NAND或eMMC逐渐普及,但K9K2G08UOM-VIBO因其成熟生态和高兼容性,仍在许多存量项目中持续服役。
  

应用

该芯片广泛应用于需要高可靠性和长期稳定运行的嵌入式系统中。典型用途包括工业控制设备如PLC、HMI人机界面、远程IO模块等,这些设备通常要求数据在频繁断电和震动环境中依然安全可靠。在网络通信领域,被用于路由器、交换机、光端机等设备中存储固件配置和日志信息。在消费类电子产品中,可用于老式数码相机、多媒体播放器或POS终端设备的数据缓存与系统存储。由于其支持宽温工作和高耐久性,也常见于车载信息系统、车载记录仪和汽车诊断工具中。此外,在医疗仪器、测试测量设备以及航空航天地面支持设备中也有应用,特别是在对数据完整性要求严苛且不能接受突发故障的场合。得益于其成熟的驱动支持和广泛的MCU兼容性,许多基于ARM7、Cortex-M3/M4或PowerPC架构的控制系统均将其作为主要的外部存储介质。虽然目前已有更高密度和更小封装的替代方案出现,但在一些注重长期供货保障和设计延续性的项目中,K9K2G08UOM-VIBO仍是优选方案之一。
  

替代型号

MT29F2G08ABAEA

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