时间：2025/8/10 5:41:49
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ISPLSI5384VE-165LF256-125I 是 Lattice Semiconductor（莱迪思半导体）推出的一款高性能、高密度的可编程逻辑器件（PLD），属于其 ispLSI（In-System Programmable Logic and Signal Interface）系列。该器件采用非易失性存储技术，支持在系统编程（In-System Programming, ISP），适用于需要高逻辑密度和快速响应的复杂数字系统设计。
型号: ISPLSI5384VE-165LF256-125I
制造商: Lattice Semiconductor
封装类型: 256引脚 Fine-Pitch Ball Grid Array (FBGA)
工作温度范围: -40°C 至 +85°C
电源电压: 3.3V
最大工作频率: 125 MHz
逻辑单元数: 5384
宏单元数: 256
可编程I/O数量: 165
延迟时间（tpd）: 5.5 ns
编程方式: JTAG接口在系统编程
封装尺寸: 17x17 mm
ISPLSI5384VE-165LF256-125I 具备一系列先进的特性，能够满足复杂逻辑设计和高速系统集成的需求。首先，该器件采用了Lattice的非易失性电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）技术，使其在断电后仍能保留配置数据，无需外部配置器件。其次，该PLD支持在系统编程（ISP），通过JTAG接口即可进行现场升级和调试，提高了系统的灵活性和可维护性。
该器件具备高达5384个逻辑门，256个宏单元和165个用户可编程I/O引脚，适合实现复杂的组合逻辑和状态机设计。其高速性能支持最大工作频率达125 MHz，延迟时间仅为5.5 ns，非常适合对时序要求较高的应用场景，如通信接口、工业控制和嵌入式系统。
此外，ISPLSI5384VE-165LF256-125I采用256引脚FBGA封装，具有优良的封装体积与引脚数平衡，适用于空间受限的设计。工作温度范围为-40°C至+85°C，适合工业级应用环境。电源电压为标准3.3V，降低了功耗并简化了电源设计。
该器件还支持边界扫描测试（Boundary-Scan Test, BST），符合IEEE 1149.1 JTAG标准，可用于PCB级测试和故障诊断，提高系统的可靠性和测试效率。
ISPLSI5384VE-165LF256-125I 广泛应用于需要高性能、高集成度和灵活性的数字系统中。典型应用包括：通信设备中的协议转换和接口控制、工业自动化系统中的逻辑控制与状态机设计、测试与测量设备中的定制逻辑和数据路由、消费电子产品中的定制I/O接口和系统管理功能。
由于其支持在系统编程和边界扫描测试，该器件也常用于需要现场升级和维护的嵌入式系统、网络设备和汽车电子模块。此外，在军事、航空航天和医疗设备中也有应用，特别是在对可靠性要求较高的工业环境中。
Lattice MachXO系列（如LCMXO2280）、Xilinx XC9500XL系列、Intel MAX II EPM2210
